Occasion RUDOLPH FE IV #9398259 à vendre en France

RUDOLPH FE IV
Fabricant
RUDOLPH
Modèle
FE IV
ID: 9398259
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1995
Thickness measurement system, 8" 1995 vintage.
RUDOLPH FE IV est un ellipsomètre optique qui est utilisé pour la mesure précise des propriétés optiques des matériaux minces. Le dispositif est un instrument à 4 longueurs d'onde qui permet de déterminer des paramètres optiques de revêtement à l'aide de la lumière polarisée. Il peut mesurer un large éventail d'angles d'incidence, de 10 ° à 70 °, et convient pour des mesures à une fréquence quasi normale et hors plan. RUDOLPH FE-IV utilise une roue de filtre interférentiel, plusieurs photodétecteurs et un polariseur linéaire pour mesurer des paramètres polarimétriques précis. Sa conception est améliorée par rapport aux précédents modèles d'ellipsomètre FE III grâce à l'utilisation de quatre longueurs d'onde de lumière laser (633nm, 515nm, 488nm et 478nm) pour mesurer l'échantillon sous de multiples angles. Ces mesures sont ensuite utilisées pour calculer les constantes optiques de l'échantillon. L'instrument est conçu pour être banc et les données de sortie peuvent être facilement analysées à l'aide du logiciel AE Win-EV basé sur Windows. Le logiciel dispose d'un puissant outil d'ajustement de courbe pour aider l'utilisateur à extraire les constantes matérielles des données. L'instrument comprend également une plaque d'échantillonnage intégrée, permettant un alignement simple des échantillons sur la trajectoire de l'axe du faisceau. En outre, l'interface utilisateur intuitive et l'affichage graphique font de FE IV un choix idéal pour les mesures de revêtement optique. Le système est également conçu avec robustesse à l'esprit, offrant un entretien facile et une durabilité à long terme. La conception avancée permet d'assurer des mesures précises sur une large gamme de substrats et d'angles polaires. Dans l'ensemble, FE-IV est un ellipsomètre polyvalent conçu pour les chercheurs à la recherche d'un système fiable et précis pour mesurer les constantes optiques des couches minces et des surfaces. Il fournit la précision nécessaire pour les recherches au niveau de la recherche et est adapté pour une utilisation dans un environnement de laboratoire.
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