Occasion SENTECH Senduro 300 #293644159 à vendre en France

SENTECH Senduro 300 est un ellipsomètre de pointe pour la métrologie en couches minces. Il est conçu pour mesurer l'épaisseur, la composition, la densité et d'autres paramètres du matériau avec une précision et une précision exceptionnelles. Le dispositif utilise plusieurs principes optiques avancés pour mesurer l'état de polarisation d'un échantillon dans le domaine infrarouge et visible du spectre. La configuration optique du Senduro 300 contient à la fois un goniomètre piézo-électrique de haute précision et un polarimètre interférométrique. Le goniomètre est utilisé pour effectuer une rotation précise de l'échantillon et fournir une analyse angle-dépendante des paramètres d'ellipsométrie externe. L'angle d'incidence approprié est choisi en fonction du matériau étudié et le polarimètre à deux angles est utilisé pour établir les constantes optiques, telles que l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction et la fonction diélectrique complexe. SENTECH Senduro 300 est capable de réaliser une précision très élevée et se caractérise en outre par des mesures rapides et sans contact. Les positions des échantillons sont ajustées à l'aide d'un étage manuel intégré et d'un étage motorisé intégré. Ce dernier est équipé d'un contrôleur et d'un pointeur laser permettant un alignement précis de la surface de l'échantillon. En plus de fournir une précision et une vitesse de mesure supérieures, Senduro 300 est également équipé de plusieurs fonctions logicielles avancées. Par exemple, l'ellipsomètre comprend un système automatique de régulation de température et de compensation de température, qui assure des résultats cohérents sur une large plage de température. En outre, SENTECH Senduro 300 intègre des outils d'analyse multicouches sophistiqués et une variété d'images de rapports ainsi que des représentations graphiques. Grâce à son optique avancée, à ses étages mobiles de précision et à ses logiciels puissants, Senduro 300 est un outil de caractérisation inestimable pour les matériaux à couches minces. Il permet des mesures très précises et répétables de l'épaisseur, de la composition et de la densité de la couche, ainsi qu'une grande variété d'autres paramètres. Cela en fait un instrument précieux pour l'assurance qualité dans la fabrication de semi-conducteurs et de dispositifs optiques.