Occasion NANOMETRICS 8300X #9219449 à vendre en France
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ID: 9219449
Film thickness analyzer
Wafer P/N:
7000-0519
7200-2161
7200-2193
J.A. WOOLLAM LPS-400
J.A. WOOLLAM M-44
KENSINGTON 25-3700-1125-04 Robot
TOSHIBA 1500 Series.
NANOMETRICS 8300X est un système d'inspection par masque et wafer développé par NANOMETRICS Incorporation. Ce système de pointe est capable d'inspecter un large éventail de caractéristiques de masque et de plaquettes avec une grande précision. Il offre le plus haut niveau de sensibilité, de détail et de résolution pour les applications créatives de processus et de développement de produits. 8300X est conçu avec une architecture très flexible qui peut être adaptée en fonction des besoins du processus d'inspection. Son scanner modulaire est configurable pour différents types de masques et de plaquettes, tels que la peau dorsale et les plaquettes pulvérisées. NANOMETRICS 8300X dispose d'une technologie avancée de détection de fonctionnalités, qui lui permet de détecter et d'isoler facilement des formes et des motifs complexes. En utilisant une combinaison de techniques d'imagerie multi-spectrale, y compris la fluorescence, l'imagerie UV et l'imagerie standard, 8300X est en mesure d'inspecter un large éventail de caractéristiques. Sa technologie d'imagerie spectrale permet de trouver des voies et de détecter des caractéristiques, ce qui est essentiel pour réussir les applications de validation de conception. Il permet également de mesurer avec précision les structures de base telles que lignes, rectangles et cercles. En outre, NANOMETRICS 8300X dispose d'une variété d'outils logiciels puissants pour le contrôle des processus, l'analyse des défauts et la déclaration. Ses capacités de contrôle des processus comprennent la classification automatique des défauts, les mesures automatisées de la largeur des lignes, l'analyse de la poubelle, et plus encore. Pour l'analyse détaillée des défauts, 8300X dispose d'une suite d'outils d'analyse des défauts, y compris le suivi des particules, l'analyse de la taille des fonctionnalités et les outils de repérage des défauts. Enfin, NANOMETRICS 8300X offre des capacités de déclaration complètes qui permettent aux utilisateurs de résumer et de visualiser rapidement les résultats de leur processus d'inspection des masques et plaquettes. Dans l'ensemble, 8300X offre un niveau élevé de sensibilité, de résolution et de précision pour l'inspection des caractéristiques du masque et de la plaquette. Avec sa fonctionnalité avancée, ses outils de contrôle des défauts et des processus, ainsi que ses capacités de rapport complètes, il fournit la solution parfaite pour l'évaluation des performances de production, l'optimisation des processus et la validation rapide de la conception.
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