Occasion ZYGO AV 6010T #9158738 à vendre en France

L'équipement ZYGO AV 6010T Masque et Wafer Inspection est utilisé pour la détection et l'analyse des défauts dans les masques de lithographie et les wafers. Le système comprend une caméra haute résolution, des étages basés sur la flexion, une technologie d'éclairage avancée et des logiciels pour l'imagerie et la gestion des données. Cette plateforme puissante permet aux utilisateurs d'identifier et de caractériser rapidement les défauts jusqu'aux meilleurs détails. La caméra AV 6010T utilise une optique haute NA et un capteur de comptage de photons pour une qualité d'image supérieure, fournissant une résolution de défaut claire et précise. L'unité est équipée d'étages basés sur la flexion pour permettre un contrôle de mouvement de précision et des vitesses de balayage élevées. La technologie d'éclairage de pointe ZYGO intègre les LED UV et IR, permettant l'acquisition d'une plus large gamme de types de contrastes de défauts. La machine ZYGO AV 6010T Masque et Wafer Inspection dispose d'outils d'analyse qui permettent aux utilisateurs d'identifier et de rejeter facilement les masques ou plaquettes défectueux. Ces outils comprennent des algorithmes avancés d'inspection automatisée et de classification et de notation pour la catégorisation des défauts à multiples facettes. L'outil comprend également un logiciel qui permet aux utilisateurs de gérer facilement des images ou des données, de générer rapidement des rapports personnalisés. AV 6010T Masque et Wafer Inspection actif est une solution idéale pour trouver les plus petits défauts et identifier leur cause. Les capacités de haute résolution, le contrôle avancé du mouvement et l'éclairage spécialisé en font un outil puissant d'inspection des défauts. Ses outils d'analyse avancés et son modèle de gestion des données simple permettent aux utilisateurs de détecter rapidement et précisément les défauts. L'équipement ZYGO AV 6010T Masque et Wafer Inspection est un outil essentiel pour l'analyse des défaillances et les applications de recherche les plus exigeantes.