Occasion BRUKER / VEECO X-D3 AFM #9281333 à vendre en France

BRUKER/VEECO X-D3 AFM est un type de microscope à force atomique (AFM) utilisé pour l'imagerie nanométrique et l'analyse de surface. Il a une très haute résolution de 1,5 nm dans les dimensions x, y et z pour l'analyse submicronique des propriétés magnétiques, électriques et mécaniques de différentes surfaces. Le X-D3 est connu pour sa facilité d'utilisation, sa précision et sa fiabilité, ce qui en fait un choix idéal pour les chercheurs professionnels et amateurs. L'AFM fonctionne en scannant des surfaces d'échantillons à l'échelle nanométrique avec une pointe fixée à un cantilever. Le mouvement du cantilever est mesuré par un laser et un détecteur optique. Le cantilever est décalé d'un angle et produit une faible force tout au long de la procédure de balayage. VEECO X-D3 AFM est intégré avec des capacités multi-modes, y compris le contact (qui mesure les changements dans la force de contact entre le cantilever et la surface de l'échantillon) et le non-contact (dans lequel le cantilever fonctionne dans un état déchargé). Avec le mode contact, le X-D3 est capable d'imager et de mesurer avec précision différents types de topographie de surface, tels que les variations de hauteur topographique, les bosses et les cavités. Le mode sans contact est idéal pour étudier les propriétés mécaniques locales, telles que le frottement et le module élastique. Le X-D3 est également équipé d'un nouveau système d'imagerie à haute résolution, qui intègre la technologie DMD (Digital Micromirror Device) pour l'imagerie 3D avancée. Ce système fournit une image très détaillée avec une plus grande précision que les méthodes d'imagerie 2D traditionnelles. La puissance de l'imagerie de superrésolution est encore renforcée par l'imagerie de superrésolution, qui dépasse la résolution de l'imagerie classique en utilisant efficacement un flou de mouvement pour combiner plusieurs images. Le X-D3 est également optimisé pour mesurer la caractérisation courant-tension (I-V) avec un électromètre intégré, ce qui permet aux utilisateurs de mesurer rapidement et avec précision les transitions dans la résistance ou la capacité électrique. De plus, l'AFM est livré avec un contrôleur intégré PicoScan IV, qui fournit des retours d'expérience en temps réel, permettant aux utilisateurs de mieux mesurer les propriétés nanométriques telles que les courbes d'hystérésis et les domaines magnétiques. La flexibilité de cette AFM en fait le choix idéal pour les industries telles que la microélectronique, la biotechnologie, les semi-conducteurs et la recherche sur le stockage de données.