Occasion PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM #9148943 à vendre en France

INSTRUMENTS SCIENTIFIQUES DU PARC AFM (Atomic Force Microscope) est un type de microscope à sonde à balayage, qui est spécifiquement conçu pour produire des images à haute résolution de la surface d'un échantillon au niveau atomique de détail. Ce type de microscope est unique dans sa capacité de mesurer et d'image à la fois les surfaces douces et dures et la topologie. Cela se fait grâce à une combinaison d'un système optique extrêmement haute résolution et d'une sonde mécanique contrôlée par ordinateur qui est utilisée pour explorer la surface de l'échantillon. Au cœur de l'AFM se trouvent deux composants principaux : le capteur et le cantilever, tous deux montés sur une plate-forme rigide. Le capteur est un système optique ultra haute résolution qui est capable de mesurer l'intensité de la force haute fréquence entre le cantilever et la surface de l'échantillon avec une résolution nanométrique. Ce signal de force est alors converti en image optique et peut être utilisé pour produire une image tridimensionnelle de l'échantillon, incroyablement détaillée et haute résolution, applicable à une large gamme de matériaux. Le cantilever est une petite poutre avec une pointe individuelle à une extrémité, typiquement alignée dans une direction perpendiculaire à la surface de l'échantillon. La pointe est ensuite mise en contact avec la surface de l'échantillon afin de mesurer les forces entre la pointe et les atomes et molécules de surface de l'échantillon, ainsi que des images de caractéristiques physiques telles que les limites des grains. Le cantilever est équipé d'un conducteur piézoélectrique réglable qui est capable de contrôler finement le mouvement et la position de la pointe. Ceci permet à la pointe de balayer la surface de l'échantillon avec une résolution de l'ordre de nanomètres, ce qui est bien au-delà de la limite des microscopes optiques standards. INSTRUMENTS SCIENTIFIQUES PARK AFM de PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS possède des caractéristiques de performance supérieures pour l'imagerie, avec un certain nombre de fonctionnalités technologiques dédiées à optimiser la précision et la vitesse. Selon le modèle, AFM peut avoir l'un des nombreux types d'étapes d'échantillonnage qui sont conçus pour mesurer avec précision la position de l'échantillon par rapport au cantilever. Il peut également comporter un scanner d'échantillons, qui est un ensemble mobile pouvant modifier la taille de la zone à mesurer en contrôlant le mouvement de l'échantillon. INSTRUMENTS SCIENTIFIQUES DE PARK L'AFM est un outil précieux pour les chercheurs scientifiques et médicaux car il peut être utilisé pour étudier les surfaces de divers matériaux tels que les semi-conducteurs, les polymères, les protéines et les cellules avec une précision et une précision exceptionnelles. Il est capable d'analyser des structures et des propriétés telles que la topographie de surface, la rugosité, l'adhérence et la viscoélasticité. En outre, il peut être utilisé pour observer l'évolution de ces propriétés à l'échelle nanométrique au cours du temps et fournir un aperçu précieux du comportement dynamique des matériaux.