Occasion ACCRETECH / TSK UF 200SA #9274669 à vendre en France

Fabricant
ACCRETECH / TSK
Modèle
UF 200SA
ID: 9274669
Prober, 8" COGNEX 8200 Hot nickel chuck MHF-300L Hinge manipulator 2004 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA est un prober conçu pour analyser et mesurer les caractéristiques électriques des dispositifs semi-conducteurs. Il est équipé d'un équipement de mesure couche à couche qui utilise une variété de sondes différentes avec un système de mesure de haute précision. Ce prober est capable d'effectuer des mesures sur différents échantillons allant des composants semi-conducteurs, des assemblages complexes, des matrices, des bosses et des emballages. Le prober se compose de plusieurs parties différentes qui travaillent ensemble pour atteindre le résultat souhaité. Au cœur de l'unité se trouve TSK UF200SA prober, qui comprend deux entraînements de positionnement qui permettent un déplacement précis x et y de la tête de sonde sur l'échantillon. De plus, le prober comprend une machine de mesure haute fréquence qui utilise des mesures de courant alternatif et continu, de tension et de résistance afin de détecter de petits écarts dans les caractéristiques électriques de l'échantillon. ACCRETECH UF 200 SA prober comprend également une vaste bibliothèque de sélections de sonde et de pointe qui permettent une gamme d'options de sonde. Qu'il s'agisse de mesurer une seule couche, plusieurs couches, bosses ou paquets, le prober comprend un large choix de sondes et de conseils pour assurer une analyse réussie. La sonde tient et peut soulever les sondes d'essai de l'échantillon sans avoir besoin d'une manipulation manuelle. Cette technique de chargement de pointes multiples permet de mesurer un réseau jusqu'à 200 motifs de dispositifs sans augmenter le temps et l'effort pour repositionner les broches de test. Le prober dispose également d'un outil de vision intégré qui permet un alignement fluide et précis des sondes d'essai sur les sites correspondants. L'actif utilise une caméra CCD pour identifier l'échantillon en imitant chaque plot d'appareil et en appariant l'image à la bibliothèque du prober. Les échantillons de CAO peuvent être facilement chargés et modifiés dans le logiciel du prober. De plus, le modèle d'imagerie intégré peut également inspecter et détecter des défauts sur une grande surface en comparant les images CCD à un échantillon de référence. Enfin, UF 200SA comprend également une plate-forme logicielle flexible pour créer des données de test, analyser et stocker des données, et évaluer les résultats rapidement et efficacement. Le logiciel est compatible avec divers progiciels qui peuvent être utilisés pour analyser, modéliser et rapporter les résultats des tests. En outre, l'utilisateur peut se connecter à un ordinateur externe, permettant une analyse plus approfondie des données. UF200SA est un prober très précis et polyvalent qui est conçu pour mesurer les caractéristiques électriques des dispositifs semi-conducteurs. Le large choix de sondes, de conseils et d'équipements de vision, associé à la puissante plateforme logicielle, garantit une analyse réussie et des données d'essai répétables et précises à chaque fois.
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