Occasion ELECTROGLAS / EG 4090 #293606437 à vendre en France
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ID: 293606437
Taille de la plaquette: 6"-8"
Wafer prober, 6"-8"
OCR
Standard chuck
Ambient temperature.
ELECTROGLAS/EG 4090 est une solution de test de production prober conçue pour la sondes automatique, rapide et à haut rendement des dispositifs semi-conducteurs. Il est capable de tester une grande variété de dispositifs semi-conducteurs de 8mil à 1mm de pas, et supporte également des MEMS haute densité et des éléments optiques. Le prober comporte un étage automatique X-Y-Z qui permet un alignement précis entre les sondes et le dispositif testé. Le Handler Robotique Dual Arm avec curseur Z permet des cycles de test rapides et peut supporter une variété de sondes et de configurations à plusieurs niveaux de plaquettes. L'équipement dispose également de contrôles avancés de l'interface utilisateur et d'un outil d'analyse graphique, permettant aux utilisateurs de personnaliser et de gérer efficacement leurs configurations de test. Les plates-formes d'affichage à panneau plat permettent une visualisation et une analyse faciles des données. L'EG 4090 utilise un système d'étalonnage unique pour surveiller et régler les paramètres de mouvement X/Y/Z du prober, ce qui permet d'obtenir une grande précision et une répétabilité lors des essais. L'unité utilise également une surveillance avancée des courants pour s'assurer que les résultats des sondages sont efficaces, fiables et précis. De plus, une fonction auto-diagonale élimine les erreurs de désalignement, assurant une détection et des tests précis. Le manipulateur robotique à double bras intégré assure une manutention et un chargement rapides pour les essais au niveau de la filière et du wafer. Il dispose également d'une machine de préhension sous vide qui assure une manipulation sûre des plaquettes et des tests à grande vitesse. Enfin, le prober est équipé d'un outil d'état Auto-Test pour surveiller le processus de test et dépanner facilement. Dans l'ensemble, ELECTROGLAS EG4090 prober est un progrès majeur dans les solutions de test de dispositifs semi-conducteurs, fournissant aux utilisateurs des cycles de test fiables, précis et rapides. Il est capable de tester une large gamme d'appareils et offre également une interface utilisateur intuitive qui permet une gestion efficace de ses configurations de test.
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