Occasion TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #102833 à vendre en France

Fabricant
TEL / TOKYO ELECTRON
Modèle
P-8
ID: 102833
Probers.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 est un semiconducteur performant et fiable conçu pour la recherche et le développement de dispositifs semi-conducteurs avancés. Il est équipé d'un large éventail de capacités, y compris la sonde des plaquettes pendant la caractérisation des puces, les tests électriques et l'ingénierie des dispositifs. Le prober est également adapté pour des essais de production à haut volume. TEL P8 est basé sur l'équipement d'étalonnage XY standard de l'industrie et le mouvement mono-axe pour une précision et une constance maximales des résultats. Le système intègre un étage à haute résolution variable DC, permettant des vitesses de sondes élevées. L'unité est également équipée d'un laser automatisé et d'une caméra pour mesurer l'alignement et la force de pointe de la sonde. TOKYO ELECTRON P 8 est configuré pour contenir une variété de tailles de plaquettes dont 8 « et 12 ». Un gestionnaire de plaquettes à changement rapide innovant et fiable est inclus, permettant une manipulation rapide et efficace des plaquettes. TOKYO ELECTRON P8 dispose également d'une unité de nettoyage embarquée qui maintient la surface de la plaquette propre et exempte de particules ou de résidus pour garantir des résultats précis. La sonde est compatible GDS-II et l'interface avec la bibliothèque TEL Wafer permet une manipulation rapide et efficace des données. De plus, une machine de surveillance complète fournit à l'utilisateur des informations en temps réel sur l'état des plaquettes et les résultats des tests. P-8 offre également un haut niveau de convivialité de l'opérateur, avec un contrôle logiciel intuitif et des affichages graphiques clairs. L'outil d'étalonnage automatique de la sonde assure un alignement rapide et précis, minimisant le temps d'installation et de maintenance. P 8 est le prototype idéal pour le développement et le dépannage, ainsi que pour la caractérisation des procédés et l'évaluation du rendement des échantillons de production. Sa grande fiabilité, sa précision et son large éventail de caractéristiques le rendent adapté à la R&D et à l'ingénierie des semi-conducteurs.
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