Occasion JEOL 35 #9044656 à vendre en France

JEOL 35
ID: 9044656
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL 35 Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement de haute performance qui utilise un faisceau d'électrons pour observer les détails des surfaces des échantillons. L'axe du faisceau d'électrons est focalisé sur l'échantillon par l'utilisation d'une lentille électrostatique, tandis qu'un équipement d'analyse d'énergie ajuste l'intensité du faisceau pour obtenir un contraste d'image optimal. L'échantillon est positionné sur un étage de chargement supérieur et peut être manipulé avec un contrôle tridimensionnel pour bien orienter la zone souhaitée pour l'imagerie. 35 SEM offre une grande variété de fonctionnalités et d'accessoires, y compris un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffuseur, un système automatisé d'information générale et un détecteur d'inclinaison EDSMD pour l'imagerie et l'analyse 3D. Cet équipement de pointe permet également aux utilisateurs d'utiliser des techniques spéciales de préparation d'échantillons pour examiner correctement divers matériaux. Deux de ces techniques, appelées imagerie corrigée Cs et SEM à faible vide, sont dédiées au traitement d'échantillons mal conducteurs, fragiles ou non conducteurs. JEOL 35 SEM a une capacité de résolution exceptionnelle avec une résolution maximale de 1.4nm. De plus, son fonctionnement est remarquablement silencieux et faible en vibrations, ce qui rend l'environnement autour de lui adapté à l'analyse spectroscopique. Ses conditions de fonctionnement et d'environnement sont également conçues pour être faciles sur l'unité d'exploitation et sur les composants de maintenance ; donc, réduire considérablement les temps d'arrêt. 35 SEM est un instrument fiable et performant qui offre une excellente résolution tout en garantissant les normes de sécurité les plus élevées. En outre, la machine d'imagerie sophistiquée du SEM la rend facilement configurable pour diverses exigences d'analyse. Avec ses superbes caractéristiques, JEOL 35 SEM jette les bases de la recherche et de l'innovation innovantes.
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