Occasion JEOL JSM 6400F #9210557 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est idéal pour l'imagerie et l'analyse d'une large gamme d'échantillons en raison de son fusil émetteur de champ schottky très efficace. Sa haute résolution et sa grande profondeur de champ lui permettent de résoudre à la fois les structures de surface et les caractéristiques internes des échantillons. Il dispose d'un détecteur de zone à haute résolution capable d'imiter des échantillons jusqu'à une gamme de kV faible. JEOL JSM 6400 F utilise un détenteur d'inclinaison de deux axes pour refléter des échantillons aux angles différents pour produire des vues 3D et de surface d'échantillons, aussi bien qu'obtenir des vues de la direction verticale et même les directions horizontales. Une des caractéristiques incroyables de JSM 6400F est la performance de détection de son canal de signal. Ce canal de signal spécifique est sauvegardé par un système d'imagerie X-Y et des circuits de signaux avancés. Ces caractéristiques permettent l'imagerie basse tension et l'affichage rapide d'images, qui sont à la fois excellents pour l'observation et l'analyse d'échantillons biologiques et organiques. Ce SEM est également équipé d'une large gamme de capacités de grossissement jusqu'à un maximum de x400.000. En outre, ce SEM dispose d'un système environnemental robuste qui est capable de maintenir une pression constante de la chambre de visualisation au microscope de 3,2 à 5 torr, ce qui est nécessaire pour empêcher l'accumulation de charge d'échantillon induite par le faisceau d'électrons. Le JSM 6400 F est également équipé d'un étage automatique commandé par ordinateur, qui est capable de déplacer automatiquement l'étage de l'échantillon après l'imagerie à différentes positions pour une vitesse et une précision accrues. Ce SEM est également équipé d'une fonction de contrôle optique de champ lumineux qui peut ajuster avec précision la luminosité et le contraste d'une image SEM après l'acquisition de l'image. Cette caractéristique permet de visualiser et d'analyser des signaux extrêmement faibles, ce qui est important pour visualiser des structures biologiques complexes qui sont par ailleurs difficiles à visualiser. Enfin, JEOL JSM 6400F dispose également de divers logiciels pour la collecte et l'analyse de données qui sont conviviaux et intuitifs, permettant une grande facilité d'utilisation. Bien que les capacités de grossissement du JEOL JSM 6400 F soient limitées, la polyvalence et les performances de ce SEM le placent fermement parmi les SEM haut de gamme disponibles. C'est un outil incroyablement puissant pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail d'échantillons en raison de sa résolution améliorée, le porte-bascule et les fonctionnalités contrôlées par ordinateur.