Occasion JEOL JSM 6400F #9253741 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage de haute précision (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse de la structure microscopique et de la composition d'une grande variété de matériaux. Cet instrument est capable d'imager des caractéristiques de surface et de fournir une analyse élémentaire à l'aide de la spectrométrie X dispersive d'énergie (EDS). JEOL JSM 6400 F offre une gamme de capacités d'imagerie sophistiquées avec focalisation automatique, une gamme de grossissements de 10X à 50,000X et une résolution de 1.0nm. En outre, le 6400F dispose d'un nouveau système de contrôle des vibrations basses qui rend est exceptionnellement stable lorsqu'il fonctionne à haute résolution. Cet instrument a également une plage de détection de signal de 0,1 à 20 000 cps et peut fonctionner à deux tensions d'électrons différentes de 0,5 à 30kV, ce qui le rend adapté à une large gamme de matériaux et de surfaces. De plus, le préamplificateur numérique à faible bruit réduit considérablement le bruit d'image, notamment lors de l'analyse EDS. Le détecteur d'électrons rétrodiffusé a également une réponse rapide de 50 secondes et peut capturer des images sans artefacts dus à la dérive de pénétration du faisceau. JSM 6400F est équipé d'une unité d'auto-stig et d'astigmateur qui minimise les distorsions d'image rencontrées dans un SEM. Cette unité permet également une navigation facile des champs de vision pour l'imagerie et l'analyse. De plus, diverses options d'analyse sont disponibles, y compris l'analyse des lignes, la cartographie, les courants induits par le faisceau E et les simulations de rétrodiffusion et de seuil du faisceau. Enfin, JSM 6400 F dispose également d'un logiciel d'analyse automatisé qui permet une analyse rapide des données et des rapports. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6400F fournit un microscope électronique à balayage puissant et précis pour l'analyse et l'imagerie d'une grande variété de matériaux.