Occasion TOPCON ABT-32 #9293066 à vendre en France

ID: 9293066
Scanning Electron Microscope (SEM).
TOPCON ABT-32 est un microscope électronique à balayage (SEM) produit par TOPCON Corporation. Ce modèle est un SEM de niveau intermédiaire qui offre des performances d'imagerie haute résolution avec d'excellentes capacités d'analyse. L'équipement comprend un système d'imagerie numérique avancé, une source d'émission de champ hexaboride Lanthanum pour une qualité d'image maximale, un étage de spécimen automatisé polyvalent, ainsi qu'une gamme d'accessoires. ABT-32 est capable d'imiter des échantillons à l'échelle du nanomètre, jusqu'à une résolution maximale de 1,2 nm. L'unité d'imagerie numérique intégrée fournit une superbe clarté d'image et dispose d'une caméra CCD 2,8 MP et fournit à l'utilisateur une gamme de modes d'imagerie incluant le champ lumineux, le champ sombre, l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI) et l'imagerie électronique secondaire (SEI). L'étape d'échantillonnage automatisé permet à l'utilisateur d'imiter de grandes zones d'un échantillon, ou de se concentrer sur une région spécifique. La machine comprend également un spectromètre automatisé pour l'analyse élémentaire. Cela inclut une gamme de techniques d'ultra-microanalyse telles que la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDX) et la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS). Cette caractéristique peut être utilisée pour identifier, qualitativement et quantitativement, la composition chimique de l'échantillon. TOPCON ABT-32 est également compatible avec une gamme d'accessoires comprenant des porte-échantillons et des objectifs. La sélection de lentilles comprend des lentilles à ouverture numérique élevée (NA) avec un minimum de 0,2 NA jusqu'à un maximum de 5,0 NA. Ces lentilles peuvent être utilisées pour diverses tâches d'imagerie telles que la réalisation d'images à fort grossissement ou la mesure de détails à haute résolution. Globalement ABT-32 est un excellent microscope électronique à balayage de niveau intermédiaire, offrant d'excellentes performances d'imagerie, une fonctionnalité polyvalente et d'excellentes capacités d'analyse. Le SEM est adapté à un large éventail d'applications dans l'industrie, le milieu universitaire et la recherche, ainsi que pour une utilisation dans l'éducation.
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