Occasion VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #9105734 à vendre en France

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour l'analyse de précision des plaquettes semi-conductrices. Ce système automatisé fournit des mesures tridimensionnelles précises des dimensions critiques sur les plaquettes semi-conductrices pendant le processus de fabrication. Grâce au transducteur capacitif à haute résolution breveté, VEECO DEKTAK 3ST peut mesurer les dimensions jusqu'à 1nm avec une plage de précision standard de 2-10 nm. Le transducteur est également incroyablement flexible et peut être utilisé sur une variété de matériaux, y compris plusieurs types de métaux, céramique et matériaux diélectriques. L'appareil est conçu pour être utilisé à la fois sur un seul côté ou sur deux côtés, selon les besoins du client. Il est doté d'un portique planaire de 10 pouces avec ± 90 ° d'angle de chargement, et d'un fonctionnement manuel et automatique. L'interface utilisateur intègre des affichages graphiques intuitifs, faciles à comprendre, le formatage, les écrans d'aide et les fonctions de gestion de l'équipement, rendant SLOAN DEKTAK 3 ST facile à apprendre et à utiliser. Le porte-échantillon, qui est déplacé par un étage X-Y, permet la flexibilité lors du positionnement des échantillons, et améliore encore l'expérience utilisateur. Pour améliorer la précision des mesures, VEECO DEKTAK 3 ST présente également un bruit de résonance faible, une isolation aux vibrations supérieure et une stabilité à la température. Cela contribue également à réduire les distorsions résultant de conditions environnementales variables. De plus, VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST comprend la machine Stylus Patrameter qui mesure l'alignement de la piste de l'outil et compense les erreurs éventuelles. L'actif améliore encore la précision avec la fonctionnalité Small Feature Analysis (SFA-10), qui permet de mesurer des ratios d'aspect élevés, des trous traversants et d'autres caractéristiques à partir de 0,1 μ m. Enfin, le modèle offre également une option de transfert SEM qui permet le transfert d'échantillons de SLOAN DEKTAK 3ST vers un microscope électronique à balayage (SEM). Dans l'ensemble, DEKTAK 3ST est un choix idéal pour la mesure tridimensionnelle des dimensions critiques sur une variété de matériaux avec une précision de 2-10 nanomètres. L'équipement est livré avec une large gamme de fonctionnalités, telles que le système Stylus Patrameter, Small Feature Analysis (SFA-10), et l'option de transfert SEM, pour donner aux utilisateurs un contrôle maximal sur les mesures et la précision. Avec des menus intuitifs faciles à utiliser, un étage X-Y pour le positionnement et une excellente isolation aux vibrations, DEKTAK 3 ST est une unité de test et de métrologie idéale pour ceux qui travaillent sur des semi-conducteurs de précision.