Occasion GAERTNER L-26 #9026210 à vendre en France

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GAERTNER L-26
Vendu
Fabricant
GAERTNER
Modèle
L-26
ID: 9026210
Style Vintage: 1989
Ellipsometer Manual stage PC controller with software Reliable HeNe laser source Small 15 micron measuring spot 115V, 50/60 Hz 1989 vintage.
L'ellipsomètre GAERTNER L-26 est un instrument sophistiqué conçu pour mesurer les propriétés optiques des couches minces. En utilisant la lumière polarisée d'un laser infrarouge, l'instrument est capable de mesurer avec précision l'épaisseur, les constantes optiques (indice de réfraction et coefficient d'extinction), la contrainte, la topographie et d'autres caractérisations de films de substrats de manière non destructive. Le caractère sensible de l'instrument lui permet de mesurer des couches minces entre 20Å et 60µm avec une précision sous-nanométrique. L-26 est constitué d'une source laser, d'un séparateur de faisceau, d'une fibre optique, d'un étage d'échantillonnage et d'un équipement de détection. La source laser est un laser He-Cd fonctionnant dans l'infrarouge, émettant de la lumière à la longueur d'onde de 441,6 nm. Le séparateur de faisceau divise le faisceau laser en deux faisceaux, le polarisé s et le polarisé p, situés à 90 degrés l'un de l'autre. Cette lumière est ensuite envoyée à travers un câble à fibre optique et incidente sur l'échantillon, typiquement avec une incidence de 6 °. L'échantillon est monté sur un étage d'échantillon motorisé qui est capable de positionnement angulaire et de déplacement en z. Le positionnement en Z permet de mesurer des films sur différents substrats dans des configurations planaires et non planaires. La lumière incidente polarisée selon les axes s et p est réfléchie à partir de la surface de l'échantillon, le faisceau réfléchi contenant des angles ellipsométriques polarisés, mesurés par le système d'analyse de GAERTNER L-26. Cet angle ellipsométrique est ensuite utilisé pour calculer l'épaisseur, les constantes optiques, les contraintes et autres caractéristiques du film. L-26 comprend également une unité d'analyse tournante qui fournit deux capacités principales. La première est la mesure de dispersion, qui permet de mesurer la dispersion de l'indice de réfraction pour un échantillon à différents intervalles de temps sur une large plage. La seconde capacité de la machine est des mesures spectroscopiques, qui fournissent des informations sur les propriétés optiques d'un échantillon sur une plage de longueurs d'onde spécifique. Globalement, GAERTNER L-26 est un outil inestimable pour déterminer les propriétés optiques de divers films minces et substrats. Cet outil de haute précision permet de mesurer l'épaisseur du film entre 20Å et 60µm avec une précision sous-nanométrique. L'actif de l'analyseur rotatif de L-26 permet des mesures de dispersion et spectroscopiques, ainsi que d'aider à caractériser davantage des propriétés comme la contrainte et la topographie.
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