Occasion GAERTNER L117-C #9004407 à vendre en France

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Fabricant
GAERTNER
Modèle
L117-C
ID: 9004407
Ellipsometer Oriel 70705 high voltage supply Spex 1681B 0.22m spectrometer Spex 1683P and 1682A broadband radiation source (Tungsten, Deuterium) National Instruments SCB-68 Gaertner L117C (mechanical part) Monochromator Photomultiplier Halogen lamp May include Win 98 software Cables.
L'ellipsomètre GAERTNER L117-C est un équipement utilisé pour mesurer les propriétés optiques des couches minces sur les surfaces. L'Ellipsomètre utilise deux sources lumineuses polarisées et un détecteur de lumière pour mesurer l'état de polarisation de la lumière réfléchie sur la surface étudiée. Les données recueillies à partir de la lumière réfléchie peuvent alors être utilisées pour calculer l'épaisseur, les constantes optiques et la croissance du dépôt du matériau à couche mince. L117-C Ellipsomètre utilise deux sources laser He-Ne stabilisées en interne. Le premier laser sert de référence et est positionné perpendiculairement au faisceau lumineux éclairant l'échantillon. Le second laser est utilisé pour mesurer la grandeur et l'état de polarisation de la lumière réfléchie polarisée elliptiquement. Le détecteur de lumière est composé de deux détecteurs quadrants qui mesurent la grandeur et le rapport de l'état de polarisation. Les données sont ensuite utilisées pour déterminer l'évolution de polarisation résultante qui est affectée par les propriétés du film mince. Ces données peuvent alors être utilisées pour calculer les propriétés optiques du film mince, telles que son épaisseur, son indice de réfraction et son coefficient d'extinction. L'ellipsomètre GAERTNER L117-C est un système fiable, reproductible et facile à utiliser pour l'analyse de couches minces. C'est une unité conviviale qui peut être contrôlée par une fenêtre graphique interactive et qui convient pour des applications de recherche et de développement, ou pour le contrôle de qualité de routine. Il dispose d'une unité informatique intégrée, d'un écran tactile LCD pour la saisie des données et d'une unité de traitement des échantillons entièrement automatisée pour des mesures pratiques. En résumé, L117-C Ellipsomètre est une machine fiable et facile à utiliser utilisée pour mesurer les propriétés optiques des couches minces. Il utilise deux lasers et un détecteur de lumière pour mesurer avec précision l'état de polarisation de la lumière réfléchie, permettant de calculer l'épaisseur du film, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction. C'est un outil convivial et parfaitement adapté à la recherche, au développement et au contrôle de qualité de routine.
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