Occasion GAERTNER L117 C #9011501 à vendre en France

GAERTNER L117 C est un ellipsomètre qui permet la mesure non destructive et précise des caractéristiques de surface, y compris l'épaisseur du film, l'indice de réfraction et l'anisotropie optique des échantillons. L'ellipsomètre est équipé d'un angle d'incidence variable (AOI) de 0 ° à 85 °, permettant des mesures sous divers angles. L117 C utilise une variante de la technique d'ellipsométrie à angle variable monochromatique (MVAE), qui mesure avec précision l'état de polarisation de la lumière réfléchie à partir d'échantillons permettant un profilage de profondeur jusqu'à 5 microns. GAERTNER L117 C utilise un laser à néon hélium (HeNe) d'une longueur d'onde de 632,8 nanomètres focalisé et incident sur l'échantillon à l'IAO prédéfini. La lumière polarisée est alors réfléchie avec différentes composantes, dont l'amplitude et la phase, déterminant l'état de polarisation connexe de la lumière réfléchie. Cet état de polarisation est mesuré et analysé à l'aide de l'optique de précision L117 C et du logiciel PC, résolvant les propriétés des échantillons à des résolutions dans la gamme des nanomètres. Les variations des matériaux des échantillons peuvent être détectées grâce à la capacité de GAERTNER L117 C à détecter les changements d'indice de réfraction et d'anisotropie optique, utiles pour l'évaluation des caractéristiques d'interface liquide et solide. L117 C peut également mesurer efficacement l'épaisseur des films très minces et quantifier les différences d'orientation de surface des matériaux stratifiés avec une sensibilité de 0,2 nm. GAERTNER L117 C est intégré à une plate-forme porte-échantillons, permettant de monter facilement les échantillons et de les déplacer à travers les tables de laboratoire x et y-axes. Le support peut supporter des échantillons jusqu'à 200x100mm avec une épaisseur maximale de 12mm. Le porte-échantillon est également équipé de mécanismes à libération rapide qui permettent un chargement et un déchargement rapides. L117 C est un ellipsomètre non destructif et très sensible qui fournit une analyse précise de diverses caractéristiques de l'échantillon. Son optique circonférentielle supérieure avec une large gamme de mesures AOI, combinée à son logiciel intuitif basé sur PC, en fait un outil idéal pour l'évaluation des couches minces organiques et inorganiques, interfaces liquide/solide et autres nanostructures.