Occasion J.A. WOOLLAM M-2000 #9189354 à vendre en France

J.A. WOOLLAM M-2000 est un ellipsomètre optique avancé qui mesure à la fois l'épaisseur et les propriétés optiques des couches minces. M-2000 utilise une technologie brevetée de compensation tournante pour mesurer à la fois l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction des couches minces. L'instrument comporte une source lumineuse monochromatique qui est transmise par deux paires de polariseurs linéaires croisés. Au fur et à mesure que la lumière traverse l'échantillon, l'état de polarisation est modifié et la différence d'intensité résultante est liée aux propriétés optiques de l'échantillon. J.A. WOOLLAM M-2000 est conçu pour un large éventail d'applications, y compris le dépôt de couches minces, le revêtement optique, la fabrication de dispositifs semi-conducteurs et la science de la surface. M-2000 utilise un ellipsomètre spectroscopique à faible angle (LASE), qui lui permet de mesurer des couches minces de 0 à 15nm avec une précision supérieure à 0,1 degré. Cette combinaison avec son système de détection multi-canaux unique offre la plus grande précision et précision pour les mesures de couches minces. J.A. WOOLLAM M-2000 dispose également d'un nouvel environnement d'échantillonnage interne pour le contrôle automatisé de la température. C'est un avantage lorsque l'on mesure des matériaux ayant de fortes propriétés optiques dépendantes de la température, tels que des semi-conducteurs. Le système automatisé de compensation de rotation de l'instrument permet une mesure fluide et précise des couches minces, quelle que soit leur orientation. L'interface logicielle intégrée de M-2000 permet aux utilisateurs de contrôler et de visualiser facilement les mesures de données. Le logiciel fournit une rétroaction en temps réel, qui peut être utilisé pour diagnostiquer rapidement les problèmes et ajuster les paramètres. Ce logiciel permet également des routines avancées d'acquisition de données et la gestion du protocole d'expérimentation. J.A. WOOLLAM M-2000 est un instrument puissant et polyvalent qui peut être utilisé pour mesurer les propriétés des films minces avec une excellente précision et précision. Sa combinaison de technologies optiques de pointe et de logiciels automatisés d'acquisition de données en fait un outil précieux pour la recherche et le développement dans une variété d'industries.