Occasion RUDOLPH FE III #9063426 à vendre en France

RUDOLPH FE III est un ellipsomètre optique avancé utilisé pour la caractérisation des surfaces et des couches minces. Il permet de quantifier des propriétés optiques telles que l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction et l'épaisseur des surfaces ainsi que des couches minces et des multicouches. Il combine la modulation à base de cristaux liquides avec la spectroscopie d'imagerie infrarouge pour obtenir des résultats de caractérisation avec une précision et une polyvalence sans précédent. RUDOLPH FEIII est capable d'acquérir des données spectroscopiques des longueurs d'onde du milieu infrarouge au proche ultraviolet, ce qui le rend hautement adapté à un large éventail d'applications industrielles et de recherche. Il dispose d'une chambre de mesure contrôlée par ordinateur avec cinq axes de mouvement, permettant des mesures précises et automatiques sur des surfaces planes ou courbes sans recalibrage. De plus, la compensation du mouvement d'inclinaison de la tête permet d'obtenir des mesures précises quelle que soit l'orientation de la surface. L'instrument comprend également des détecteurs ultra-sensibles qui minimisent les besoins en puissance laser, ce qui le rend extrêmement utile pour caractériser les couches minces et les surfaces délicates. Il est équipé d'un programme automatisé d'acquisition de données défini par l'utilisateur et peut être facilement programmé avec un logiciel intuitif basé sur WindowsMD. FE-III est optimisé pour évaluer les propriétés de surface des adhésifs, peintures, revêtements et autres substances optiquement actives. Ses détecteurs infrarouges sensibles peuvent également être utilisés pour quantifier les propriétés optiques des films semi-conducteurs tels que l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction. Il s'agit d'un outil précieux pour la recherche dans les domaines de l'optique, de l'ingénierie des matériaux et de la technologie des semi-conducteurs et il est idéal pour les laboratoires de contrôle de la qualité, de métrologie optique et de recherche sur couches minces. RUDOLPH FE-III peut mesurer un large éventail de paramètres optiques avec une très grande précision. Sa conception automatisée en cinq axes simplifie le processus d'étalonnage, et la compensation du mouvement d'inclinaison minimise toute exigence de recalibrage lors de la mesure de surfaces planes ou courbes. Ses détecteurs ultra-sensibles permettent une estimation laser extrêmement faible puissance, ce qui rend l'outil bien adapté à la caractérisation des couches minces. L'instrument peut facilement être intégré à d'autres instruments analytiques et scientifiques, et son logiciel intuitif basé sur WindowsMD le rend simple à programmer. FEIII est l'outil idéal pour une large gamme d'applications industrielles et de recherche, allant de la caractérisation optiquement active des surfaces à l'analyse des couches minces semi-conductrices.