Occasion THERMA-WAVE TP 420 #9187284 à vendre en France

THERMA-WAVE TP 420 Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil de nouvelle génération conçu pour fournir des résultats fiables et précis pour l'analyse et l'inspection des wafers semi-conducteurs. La technologie de pointe de ce système fournit des données tridimensionnelles très précises sur une variété de dimensions et d'attributs, qui peuvent être utilisés pour la métrologie en temps réel et les cartes de défauts tridimensionnels directs. TP 420 est idéal pour une variété de tailles de plaquettes, allant de 300 millimètres à 8 pouces. Il est équipé d'une optique de pointe, permettant la caractérisation dimensionnelle de caractéristiques aussi petites que 150 nanomètres avec une résolution sous-nanométrique. Une caractéristique clé de l'unité est son logiciel qui comprend un haut niveau de paramétrage avancé, la minimisation de la diffusion des défauts et une interface utilisateur graphique intuitive. Cette machine fournit une collecte de données efficace avec des options de personnalisation illimitées, assurant un alignement précis de l'outil optique et l'étalonnage des paramètres critiques pendant l'acquisition des données. THERMA-WAVE TP 420 dispose également de capteurs à ultrasons pour détecter les défauts en vrac. Les capteurs ultrasonores donnent un aperçu du nombre total de défauts par plaquette. Cela garantit que les testeurs et les opérateurs ont la capacité de comparer leurs résultats avec une exactitude totale aux résultats acquis précédemment. De plus, les capteurs à ultrasons peuvent détecter plusieurs types de défauts à la fois, tels que des fissures de taille micron, des défauts de tour, des scories et des grains. En plus de ses capacités de métrologie avancées, TP 420 fournit une gamme complète de capacités de test de wafer pour la production de wafer et le développement de processus. Il est capable de détecter une variété de différents types de défauts à la fois au niveau macro et micro, des défauts de motif à la contamination sur les surfaces de contact. L'actif peut également détecter des rayures, des rayures en profondeur, des sonneries, des entombrements et un mauvais contact électrique, garantissant que le produit final est exempt de défauts. Enfin, THERMA-WAVE TP 420 peut être intégré dans les systèmes de production existants, fournissant des résultats rapides et précis dans le flux de travail. En outre, le modèle est conçu pour un entretien facile et évolutif. Sa conception modulaire permet d'améliorer sa technologie au besoin, en veillant à ce qu'elle soit à la hauteur des exigences changeantes de l'industrie. Dans l'ensemble, TP 420 Wafer Testing and Metrology Equipment offre un ensemble complet de fonctionnalités et de capacités qui garantit des résultats fiables et précis, permettant aux clients de recevoir des produits sans défaut. Ce système offre une solution complète pour les besoins d'essais de plaquettes et de métrologie, ce qui en fait le choix idéal pour la production de plaquettes et le développement de processus.