Occasion PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #9081351 à vendre en France

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ID: 9081351
Style Vintage: 2004
Focused ion beam system Electron and ion beams: Yes (2) Gas injection systems: PT, unlabeled Detectors: Secondary Backscatter Chamberscope Main instrument: Semiconductor Stage tilt: Yes Rotation capability: 45° or more Features / addons: Micromanipulator Second gas: Ins 2004 vintage.
PHILIPS/FEI Nova Nsouhaite Lab 200 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse des structures nanométriques de divers matériaux. Il est équipé d'un étage de précision à 3 axes, ce qui lui permet de se déplacer jusqu'à trois axes simultanément pour un positionnement précis de l'échantillon. En outre, le microscope est capable de fournir une imagerie haute résolution de surfaces avec une résolution latérale de 0,5 nm et une précision verticale de 0,3 nm. Le FEI Nova NhouseLab 200 intègre des logiciels d'imagerie et d'analyse automatisés avancés qui permettent aux utilisateurs de capturer et d'analyser les images rapidement et avec précision. Il est également construit avec un canon à électrons très efficace, qui produit des faisceaux d'électrons de haute intensité pour l'imagerie des surfaces jusqu'au niveau atomique. Ce canon à électrons est conçu pour minimiser les effets de la charge due à l'interaction électron-faisceau avec l'échantillon. PHILIPS Nova Nérabilité Lab 200 comprend également un système automatisé d'excitation d'échantillons qui contrôle la grandeur et la direction du faisceau pour optimiser le contraste d'image pour un large éventail d'applications. Il est également équipé d'une grande variété de logiciels pour aider à tous les aspects de la préparation des échantillons, de l'analyse et de l'optimisation des conditions. Nova Nérabilité Lab 200 utilise également des opérations de balayage informatisé sophistiquées via son scanner motorisé intégré. Ce système permet un balayage automatisé selon tous les axes de l'échantillon ainsi que la capacité de contrôler le temps d'exposition et la luminosité du faisceau d'électrons, composantes critiques du succès de l'imagerie pour le bon fonctionnement du microscope. Enfin, PHILIPS/FEI Nova Nérabilité Lab 200 dispose d'une large gamme d'accessoires conçus pour améliorer l'expérience de l'utilisateur. Ces accessoires comprennent un contrôleur microscopique pour simplifier la capture d'image, un programme d'analyse d'image pour analyser rapidement les données de l'image, et une variété de manipulateurs conçus pour aider à manipuler l'environnement de l'échantillon, tels que le support, coverslips, porte-échantillon et manipulateurs de pression de vapeur. En tout, le FEI Nova Naptation Lab 200 est un excellent choix pour étudier les structures et les matériaux à l'échelle nanométrique grâce à son microscope électronique à balayage sophistiqué. Il offre un haut niveau de précision, un système d'imagerie et d'analyse automatisé avancé, et une grande variété d'outils et d'accessoires pour un fonctionnement optimisé. Avec sa polyvalence et son abordabilité, c'est un choix idéal pour tout chercheur.
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