Occasion ACCRETECH / TSK Win-Win 50-A5000 #9178496 à vendre en France

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000 Mask & Wafer Inspection Equipment est un outil complet et de haute précision conçu pour fournir une solution complète pour inspecter les défauts de masque et de plaquette de semi-conducteur. Le système est conçu pour être robuste et fiable, offrant un haut niveau de précision et de fiabilité. Il fournit un ensemble complet de fonctionnalités qui aident à diagnostiquer tout type de masque, wafer, ou les défauts de l'appareil opto-électronique. L'unité utilise une technologie d'inspection avancée qui combine une machine d'imagerie de microscopie avec des techniques de microscopie à faisceau ionique focalisé et à force atomique. Cette intégration permet un niveau de détail beaucoup plus élevé dans l'analyse des structures jusqu'aux niveaux nanométriques, ainsi que la détection de défauts ou de déformations non visibles. L'outil d'imagerie est composé d'une zone de balayage, avec une capacité optique et de rayons X, ainsi que d'ajuster automatiquement les champs de vue. L'actif offre également l'imagerie avancée SEM/FIB avec modèle d'imagerie parallèle et fonction de couture automatisée pour la coloration d'image transparente, ce qui le rend idéal pour restituer des images numériques étendues de défauts complexes ou difficiles. TSK Win-Win 50-A5000 est équipé d'une précision de scan de haute précision, ce qui le rend adapté à des tâches rigoureuses de contrôle de la qualité et de production. Il dispose également d'un équipement d'alignement automatisé et très précis qui, associé à une fonction d'acquisition d'image adaptée, permet la détection de très petites déformations en forme de masque ou de plaquette. Ce système peut lire avec précision la silhouette de gravure, l'angle de gravure et le lavabo de gravure. De plus, l'unité est capable de détecter avec précision et rapidité les anomalies structurelles dans le masque ou la plaquette, telles que les défauts, les fissures et les formes non uniformes. En outre, ACCRETECH Win-Win 50-A5000 offre une large gamme d'outils intégrés puissants pour simplifier la détection et l'analyse des défauts de masque et de plaquette. Cela comprend une série de fonctions d'analyse et de comparaison de données conviviales, ainsi qu'un ensemble complet d'outils logiciels pour la préparation et le transfert de données à travers les connexions réseau. De plus, les détecteurs intégrés de diffusion et de réflexion optiques (OSR) offrent différents modes de fonctionnement, permettant d'identifier et de distinguer même les plus petits défauts des surfaces lisses. Globalement, Win-Win 50-A5000 Masque et Wafer Inspection Machine offre un ensemble puissant de fonctionnalités et de capacités, permettant aux utilisateurs d'identifier et de traiter pratiquement tout type de masque de semi-conducteur ou de wafer défauts avec le plus haut niveau de précision et de fiabilité. L'outil est optimisé pour une utilisation dans les environnements de R-D et de production, assurant une productivité maximale, un rapport coût-efficacité et une assurance qualité.