Occasion ADE / KLA / TENCOR AWIS Constellation #9190875 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR AWIS Constellation est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour la production de semi-conducteurs. C'est un outil utilisé pour analyser diverses géométries, défauts et autres caractéristiques des plaquettes. Le système utilise l'examen automatisé des défauts, la vérification des plaquettes, le contrôle des processus et les capacités d'examen des défauts pour assurer un niveau élevé de précision. L'unité se compose d'une machine d'inspection automatisée haute résolution, ADE AWIS Constellation Platform, et d'une variété d'outils pour permettre l'analyse des données. KLA AWIS Constellation Platform est un outil de balayage rapide qui permet d'inspecter les fonctionnalités haut de gamme afin de détecter et de mesurer les défauts éventuels. L'actif est capable de détecter de petits défauts sur la surface de la plaquette, tels que des défauts de sous-microns, ainsi que toutes les caractéristiques qui ne sont pas conformes au modèle de conception. Avec TENCOR AWIS Constellation Platform, le modèle effectue l'examen automatisé des défauts, la vérification des plaquettes, l'analyse de l'équilibre et la vérification des défauts, fournissant aux utilisateurs des informations très détaillées sur les défauts dans la plaquette. L'équipement comprend également un outil de navigateur Web qui permet aux utilisateurs de comparer, interpréter et partager rapidement les résultats. Le système comprend également une bibliothèque d'échantillons spectraux, qui peuvent être utilisés pour prédire les défauts futurs en fonction de leur comportement et de leur occurrence. L'unité peut également utiliser des profils spectraux de modèles prédéfinis pour détecter et caractériser des caractéristiques et des anomalies difficiles à trouver. De plus, la machine fournit des métriques pour le désespoir des défauts, l'inspection des défauts, le contrôle du niveau des défauts et la détection et la mesure des défauts. Pour les utilisateurs avancés, l'outil comprend un ensemble de fonctionnalités avancées qui prend en charge l'inspection des masques 3D et l'inspection des plaquettes, avec plusieurs angles d'éclairage, la classification automatisée des défauts, l'analyse des défauts de particules et la reconstruction 3D des défauts. Enfin, l'actif est compatible avec une gamme de procédés de fabrication de dispositifs semi-conducteurs, ce qui en fait une solution d'inspection de masque et de plaquettes tout-en-un pour une large gamme de fabrications de dispositifs. En outre, le modèle est certifié et a obtenu l'acceptation mondiale de l'industrie. Avec son ensemble complet de fonctionnalités, AWIS Constellation est un outil précieux pour gérer et inspecter les caractéristiques des plaquettes pendant le processus de fabrication des dispositifs semi-conducteurs.