Occasion IRVINE OPTICAL Ultrastation 3B #7444 à vendre en France

ID: 7444
Taille de la plaquette: 3", 4", 5", 6"
Wafer Inspection system with wafer loader, 3"-6" Nikon optics including 10x, 20x, 40x, 60x, BD objectives Bright field, dark field reflected light measurements 8"x15" stage 6"x6" stage movement.
IRVINE OPTICAL Ultrastation 3B est un masque puissant et très précis et un équipement d'inspection de plaquettes conçu pour une large gamme d'applications de semi-conducteurs. L'ultrastation est composée de plusieurs modules, dont un module de mesure de dimension critique (CD), un module de contrôle automatisé des défauts (ADI), un module de contrôle optique automatisé (AOI), un module de contrôle des plaquettes et un module d'analyse de rendement. Pour commencer, le module de mesure CD est équipé d'une optique avancée et dispose d'une nouvelle précision de 0,7 micron, permettant des mesures rapides, précises et répétables. Les multiples objectifs du microscope, un large éventail de champs de vision et le système d'autofocus laser intégré en font un outil de mesure fiable, simple et polyvalent. Le module ADI, quant à lui, est une unité d'observation transversale qui permet aux utilisateurs d'identifier rapidement les défauts, en fonction de leur taille et de leur forme, tant dans les zones délimitées par les tranches que dans les lignes de scribe environnantes. Il dispose d'une option d'imagerie multiple, permettant aux utilisateurs d'acquérir des données à partir d'un maximum de deux emplacements simultanément. Le module AOI d'IRVINE OPTICAL ULTRASTATION 3B fournit une détection et une classification efficaces des défauts, en utilisant des algorithmes de comparaison d'images et d'appariement de motifs avancés. Il peut détecter des défauts microscopiques et macroscopiques, tels que des rayures, des particules, des taches et des rayures, ainsi que des ponts et des ouvertures. Il est également capable de suivre et de compter les motifs, tels que les fils et les vias. Le module d'inspection des plaquettes offre une gamme complète de fonctions de métrologie, y compris l'analyse de motifs 2D, l'analyse BGA, l'analyse de comparaison de pas et l'analyse intégrée des défauts. Il est conçu pour des vitesses de balayage jusqu'à 10X plus rapides que les systèmes traditionnels, et ses systèmes automatisés fournissent des lectures précises et répétables. Enfin, le module d'analyse de rendement aide les organisations à optimiser les performances de rendement de leurs produits. Il offre des fonctionnalités avancées, telles que le suivi des rendements en temps réel et le contrôle de la qualité, ainsi que des capacités de rapport. Il fournit également des affichages graphiques qui peuvent être utilisés pour surveiller les tendances des défauts et identifier les problèmes de rendement. En résumé, l'Irvine Optics Ultrastation 3B est une machine avancée d'inspection de masque et de plaquettes qui combine performance, précision et une suite complète d'outils de mesure et d'analyse de rendement. C'est un choix idéal pour les organisations à la recherche d'un appareil complet, fiable et convivial pour répondre aux besoins de leurs applications semi-conductrices.
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