Occasion NANOMETRICS NanoSpec M-210 #121797 à vendre en France

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ID: 121797
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1993
Metrology inspection system Program software: DOS 6.20 (Japanes version) Software version: 2.30*1 Available wafer site: 8" Fouse control: Auto focus Light Source 400 to 800mw halogen lamp Used voltage/watt: 6V 15W Monitor/key board : CRT Spectrophotometer Head Photointensity meter reads: Zero intensity: 0.8, high intensity: 66 Gain 8 Zero control Wavelength counter control User interface RS232C Utility Power: AFT Controller 1COW Motor Driver controller 1COW Computer 1COW Printor 1COW 1993 vintage.
NANOMETRICS Nérabilité Spec M-210 est un masque de haute précision et un équipement d'inspection des plaquettes conçu pour le contrôle automatisé des processus et l'évaluation des composants semi-conducteurs. Le système est équipé d'un microscope optique à champ lumineux et d'un large éventail de sources d'éclairage, de détecteurs et de tubes photomultiplicateurs. Il peut être utilisé pour mesurer un large éventail de propriétés d'imagerie, y compris la topographie de surface des plaquettes et les dimensions critiques, la profondeur de jonction, les défauts et la contamination. L'unité se compose de deux étapes : l'étape Masque et l'étape Wafer. Au stade Masque, la machine effectue l'éclairage du champ sombre du masque pour obtenir un contraste entre les lignes et l'espace et mesurer précisément les dimensions critiques. L'outil effectue également une microscopie en coupe transversale en lumière blanche pour détecter avec précision les défauts, y compris la rugosité de la largeur de la ligne, les détails de forme et de forme et d'autres défauts tels que le dépôt de particules et la plaque. Au stade Wafer, l'actif effectue une microscopie à champ lumineux à des résolutions plus élevées pour analyser le profil de la plaquette et mesurer précisément les dimensions critiques jusqu'à l'échelle du nanomètre. NanoSpec M-210 présente plusieurs traits pour faciliter l'opération, le fait d'inclure un miroir déformable pour le foyer a contrôlé piezo reflétant, double à haute résolution conduit des stades pour les alignements précis et une reconnaissance de trait automatique pour la classification automatisée de défauts. En outre, le modèle offre une large gamme de fonctionnalités de métrologie automatisée telles que des profils, des détections de bord et des visualisations 2D/3D. De plus, l'équipement fournit une gamme de techniques avancées d'analyse de données pour effectuer des mesures topographiques, des densités de défauts et des inspections d'uniformité, ainsi que pour identifier les tendances et valider les résultats des processus. NANOMETRICS NhouseSpec M-210 est une combinaison fiable, robuste et rentable de composants optiques et électroniques, permettant des résultats très précis et reproductibles dans un facteur de forme compact. Il est idéal pour une utilisation dans l'industrie des semi-conducteurs, où les processus nécessitent une analyse critique et cohérente des différentes couches et composants d'un dispositif. Le système est capable de mesurer de très petits détails avec une grande précision et précision, éliminant le besoin d'inspection manuelle.
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