Occasion AMRAY 1850FE #9112113 à vendre en France

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ID: 9112113
Scanning Electron Microscope (SEM).
AMRAY 1850FE est une série de microscopes électroniques à balayage d'émissions de champ (FESEM) fabriqués et distribués par la société FEI. Sa conception repose sur une colonne à vide 120kV, une formation de lentilles électroniques et optiques conformes à l'IEEE et non conformes à l'IEEE, et un équipement de détection d'oméga/rayons X. Fondamentalement, FESEM est une technique d'imagerie qui utilise des électrons au lieu de la lumière pour obtenir des images amplifiées d'un échantillon. Il peut agrandir un objet jusqu'à 300 000 fois sa taille réelle, fournissant une résolution forte jusqu'à 1nm. En ce qui concerne les séries 1850FE, ce modèle de microscope de pointe est idéal pour les chercheurs et les scientifiques qui ont besoin de plus de détails et de résolution dans leurs observations et expérimentations. Il produit facilement des résultats similaires au SEM traditionnel avec un meilleur contrôle et une plus grande gamme d'opérations. AMRAY 1850FE est équipé d'une chambre de manipulation d'échantillons, avec son propre système de contrôle numérique, offrant x, y, z mouvement d'échantillons et suivi. En outre, une unité de commande unique est installée avec la machine qui permet le passage de l'échantillon à l'entrée de la chambre d'échantillonnage sans changer de composants, ce qui le rend bien adapté à une gamme d'applications allant de l'imagerie 2D à l'inspection d'échantillons de géométries complexes. La machine EM-power est capable de détecter même les plus petites différences dans la taille de l'échantillon lors du déplacement entre des centaines de nanomètres changent dans les axes x et y. Les principaux éléments du 1850FE se décomposent en plusieurs éléments distinctifs. La source primaire d'électrons pour détecter et représenter l'échantillon provient d'un canon à émission de champ froid. Ce canon diffracte les électrons en un faisceau d'électrons focalisés qui passe ensuite dans la colonne de lentille. Ceci, à son tour, dirige le faisceau d'électrons directement à travers l'échantillon, la bobine de déviation créant une distorsion à l'intérieur du faisceau au fur et à mesure qu'il traverse l'échantillon. Cela permet d'inverser le contraste de l'échantillon de l'obscurité à la lumière, selon le matériau de l'échantillon. La colonne EO (Electron-Optical) du microscope est également réglable pour une meilleure et plus claire transmission des électrons. Les obstacles qui bloquent le faisceau d'électrons sont évités par la colonne EO. Enfin, le dernier composant d'AMRAY 1850FE est le détecteur. Le détecteur est chargé de fournir des images précises de l'échantillon, ces réseaux linéaires de pixels recueillant les électrons qui frappent l'échantillon et de les renvoyer au moniteur de l'utilisateur comme une image EM ou micrographe SEM. Enfin, le détecteur EM travaille avec l'outil EM-power afin de fournir une vue agrandie de l'échantillon qui est beaucoup plus détaillée que le microscope moyen.
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