Occasion AMRAY 3200C #9194257 à vendre en France

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ID: 9194257
Scanning electron microscope (SEM) Includes: Robinson detector (2) Roughing pumps Pump vibration isolator 4PI Universal spectral engine / Pulse tor SDD Sample area: 4” x 4” Analyze conductive / Non conductive material Electron gun (9) Filaments Clean dry air Nitrogen gas Infra-red camera system for monitoring Beam operation: 40 hours Power: Maximum voltage: 30 kV (2) 20 Amps 125 VAC 1997-1998 vintage.
AMRAY 3200C Scanning Electron Microscope (SEM) est un appareil d'imagerie très efficace qui permet aux chercheurs de visualiser de minuscules particules à l'échelle nanométrique. Avec son grand champ de vision et sa grande sensibilité, le SEM peut capturer des images de spécimens avec une résolution extrêmement élevée, ce qui le rend parfaitement adapté au travail en nanosciences et en ingénierie des matériaux. 3200C dispose de trois modes de fonctionnement différents pour l'imagerie. Le mode « Low Vacuum » permet des vitesses de balayage plus rapides et des valeurs de compensation de charge plus élevées, idéales pour l'imagerie d'échantillons qui peuvent contenir des particules ou des contaminants. Le mode « High Vacuum » permet l'imagerie de grand champ de vision et est privilégié lorsque vous travaillez avec des échantillons de type isolant. Enfin, le mode « Ultra High Vacuum » donne la plus haute résolution d'imagerie. La technologie d'imagerie du SEM utilise la distribution d'énergie thermo-spectrale (TSED), qui produit des images très détaillées avec un excellent contraste signal-fond. AMRAY 3200C Electron Source a également une taille de spot réglable, donnant à l'utilisateur le contrôle sur la façon dont les électrons interagissent avec leur échantillon. Avec son détecteur d'électrons secondaire à double couche, le SEM produit des images de contraste élevé de surfaces planes et courbes. En outre, le SEM est équipé d'un logiciel d'acquisition d'images de pointe qui permet aux utilisateurs d'acquérir rapidement et facilement des images et d'effectuer des réglages en temps réel. 3200C dispose également d'un étage d'échantillon qui peut être chauffé, permettant aux utilisateurs de scanner des échantillons à des températures allant jusqu'à 200 ° C, parfait pour la recherche de matériaux résistants à la chaleur. Comme une touche de finition, le SEM dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive qui permet une utilisation facile et pratique. Sans aucun doute, AMRAY 3200C Scanning Electron Microscope est le choix idéal pour les chercheurs à la recherche d'une précision et d'une clarté d'imagerie extrêmes, offrant des performances et une facilité d'utilisation inégalées. La technologie de pointe et la conception ergonomique du système en font le choix idéal pour toute application d'ingénierie des nanosciences ou des matériaux.
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