Occasion HITACHI S-2300 #165214 à vendre en France

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ID: 165214
SEM Resolution: 4.6 nm Accelerating voltage: 0.5 to 25 kV (selectable in 35 steps) Magnification: 20 to 200,000x Maximum specimen diameter: 150mm Specimen goniometer stage: Noneucentric: X: 80mm Y: 40mm R: 360° T: -20° to 90° Z: 30mm Super eucentric: X: 32mm Y: 32mm R: 360° T: -90° to 90° Z: 30mm Automatic control: brightness / contrast, focusing, astimatism correction Memory function: magnification presetting (desired 2 points), accelerating voltage memory, specimen position memory Signal processing: Gamma control Image display and recording: commercial TV scan, slow scan (4 steps), reduced area scan, waveform, photo scan (3 steps), twin photo, automatic data display Configuration: Column unit Display Oil rotary pump Auto transformer Standard tools Spares and consumables Instruction manual.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-2300 (SEM) est un système d'imagerie à haute performance et à la pointe de la technologie pour l'étude d'un large éventail de matériaux et d'applications. C'est un microscope électronique à balayage qui combine un haut degré d'automatisation avec une capacité d'imagerie exceptionnelle. S-2300 SEM est l'outil de résolution la plus élevée de sa catégorie et est utilisé dans un certain nombre d'applications différentes telles que l'analyse des matériaux, l'analyse des défaillances, l'imagerie de surface et l'imagerie 3D. HITACHI S-2300 utilise une colonne électronique à balayage de type hybride avec une source de grand diamètre constituée d'un filament de tungstène chauffé pour l'intégration avec un étage de haute précision. Cela garantit que toute zone balayée est livrée rapidement et avec précision en haute résolution et contraste élevé. Il est également équipé d'un détecteur TMF (Traveling Magnetic Field) complet qui augmente le rapport signal sur bruit tout en réduisant la plage de tension d'accélération. Cette technologie permet une meilleure imagerie des échantillons non conducteurs qui ne sont généralement pas détectés par les détecteurs d'électrons traditionnels. En plus de ses capacités de balayage, S-2300 offre une large gamme de fonctionnalités pour l'application avancée de l'imagerie par faisceau d'électrons. Sa haute performance sous vide permet d'utiliser une haute tension d'accélération pour l'imagerie de structures cristallines. Cela permet l'imagerie de caractéristiques de taille sub-micron et de voir les structures internes jusqu'au niveau atomique. L'autofocus 3D peut être utilisé pour ajuster la mise au point sans intervention de l'opérateur, tandis que le contrôle automatisé des étapes et l'auto-étalonnage au microscope permettent une imagerie non contaminée des échantillons les plus précis. HITACHI S-2300 dispose également d'un système d'alignement qui lui permet de détecter tout désalignement entre l'échantillon et le détecteur. Cela peut fournir une rétroaction rapide sur la précision du placement de l'échantillon et peut être utilisé pour corriger toute disproportion dans l'image. Il intègre également une gamme de logiciels offrant des options analytiques avancées telles que l'analyse de particules, le traitement d'images numériques et les vues 3D. S-2300 est un microscope hautement capable pour l'analyse de matériaux et le traitement d'images et est adapté à un large éventail d'applications dans la recherche et l'industrie. En combinant technologie de pointe avec haute performance et résolution d'imagerie exceptionnelle, HITACHI S-2300 offre un niveau unique de précision et de contrôle pour les applications nécessitant le plus haut degré de détail et de précision.
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