Occasion JEOL 2000EX II #9045377 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL 2000EX II (SEM) est un instrument polyvalent et performant conçu pour fournir une imagerie et une analyse à haute résolution de divers types d'échantillons. JEOL 2000EXII SEM utilise une colonne d'électrons qui produit un faisceau d'électrons avec une résolution spatiale supérieure à 1 nanomètre. Ce faisceau est dirigé sur la surface de l'échantillon et est recueilli après passage à travers celui-ci. Ces informations collectées sont ensuite utilisées pour construire une image générée par ordinateur des caractéristiques nanométriques de l'échantillon. 2000 EX II fournit une chambre d'imagerie avec une chambre de collision, lui permettant de capturer les électrons traversant l'échantillon. Cette chambre de collision rend le SEM bien adapté à l'imagerie de matériaux inorganiques tels que les semi-conducteurs, les matériaux cristallins et polycristallins, ainsi que la céramique et les métaux. Sa résolution nanométrique fournit des images claires de la morphologie microscopique des détails de l'échantillon. 2000EXII offre également un large éventail de capacités analytiques. Le spectromètre à rayons X (EDS) dispersif d'énergie de l'instrument permet à l'utilisateur d'identifier les éléments et leur concentration au sein de l'échantillon, fournissant une analyse élémentaire précieuse. L'EDS est également équipé d'une double tension de fonctionnement, permettant une analyse à haute résolution des échantillons avec une résolution atomique. Le détecteur électronique embarqué EDAX rétrodiffusé (BED) permet à l'utilisateur de mesurer les états de cristallinité, de composition de phase et d'oxydation, tandis que la capacité d'analyse semi-quantitative offerte par l'instrument permet une caractérisation rapide et facile de l'échantillon. JEOL 2000 EX II est très sensible et efficace, fournissant à l'utilisateur d'excellents résultats d'imagerie et d'analyse. Son imagerie haute résolution, associée à ses capacités analytiques avancées, en font un outil inestimable dans de nombreuses applications de recherche et de caractérisation des matériaux. Sa polyvalence, sa précision et ses performances font de 2000EX II un choix idéal pour les utilisateurs dans divers domaines, de l'ingénierie des semi-conducteurs à la recherche sur les matériaux.