Occasion JEOL JSM 6400 #9075095 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6400 (SEM) est un instrument d'analyse puissant et polyvalent capable de produire des images à haute résolution de matériaux organiques et inorganiques. L'instrument offre un large éventail de caractéristiques et de fonctions avec une facilité d'utilisation inégalée. L'optique électronique avancée du JSM 6400 permet aux utilisateurs de visualiser des surfaces d'échantillons à des résolutions de l'ordre du millième de millimètre. Ceci fournit des cartes topographiques détaillées de structures 3D très complexes qui peuvent être utilisées pour un large éventail d'applications, allant de l'étude des propriétés de surface à la réalisation de mesures point à point automatisées. La puissance d'analyse de JEOL JSM 6400 est particulièrement bien adaptée à l'analyse de matériaux tels que des isolants, des semi-conducteurs, des matériaux d'emballage, des PCB et des composants MEMS. L'instrument est capable d'imager avec une sélection d'énergie électronique et d'accélérer les potentiels, ce qui le rend idéal pour une variété de domaines, de l'analyse des défaillances et du contrôle de la qualité à la recherche en sciences des matériaux. Pour l'imagerie d'échantillons biologiques, l'instrument est équipé d'une chambre à pression variable (VP) ou basse dépression, permettant une meilleure imagerie d'échantillons non conducteurs tels que des protéines et d'autres composés organiques. En outre, un réseau de détecteurs est disponible pour la collecte d'électrons rétrodiffusés (ESB), d'électrons secondaires (SE), de rayons X (EDAX) et de cathodoluminescence (CL), faisant du JSM 6400 un puissant outil de caractérisation des matériaux. En plus de l'imagerie, l'instrument est capable de mesures point à point automatisées, permettant un balayage simultané et l'acquisition de données. Cette fonction spécifique peut être utilisée pour diverses applications analytiques, telles que l'analyse de la rugosité de surface de l'échantillon, les profils surface/volume, la détermination de la polarité/distribution de charge et l'analyse granulométrique/forme. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6400 offre un large éventail de fonctionnalités avancées, ce qui en fait le choix idéal pour une variété d'applications de recherche et d'analyse. Avec des performances fiables, un fonctionnement intuitif et une gamme complète d'options analytiques, JSM 6400 fournit aux chercheurs un outil inestimable pour étudier même les matériaux les plus complexes.