Occasion JEOL JSM 6400 #9171178 à vendre en France

JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM). Il est conçu pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. La conception unique de l'instrument comprend une structure de colonne verticale à deux colonnes avec des champs magnétiques parasites faibles et un puissant système de blocage de faisceau électrostatique. Cela permet un niveau plus élevé de qualité d'imagerie et de précision. JSM 6400 est équipé d'une source d'électrons Schottky Field Emission, qui fournit une imagerie haute résolution. La grande stabilité de l'instrument garantit que les données collectées sont répétables et reproductibles. JEOL JSM 6400 est un SEM à pression variable, capable d'imiter des échantillons de 1 Pa à 1 Torr. Cela permet aux chercheurs d'observer des échantillons sans les sécher ou les condenser. L'instrument a une dynamique rapide, allant des microampères aux hautes volts, ce qui permet la visualisation d'échantillons à la fois simples et complexes. Il dispose également d'un système de vide chromatique avancé, qui facilite le réglage des énergies électroniques et empêche la propagation de la contamination. JSM 6400 est un microscope électronique à balayage rapide et fiable, avec un débit élevé. Il dispose d'un rapport signal-bruit supérieur 16:1, et d'un détecteur ESB à deux canaux avec une résolution allant jusqu'à 1024 x 1024. L'instrument a une grande zone secondaire de détection d'électrons, ce qui permet d'améliorer la qualité de l'image à des grossissements plus élevés. Cela permet aux chercheurs de mieux contrôler le processus d'imagerie et facilite l'analyse des spécimens. En termes d'acquisition de données, JEOL JSM 6400 offre une large gamme d'options, y compris l'imagerie SE, ESB et GSE. L'instrument dispose également d'une capacité de balayage automatisé des étages, ce qui simplifie grandement l'acquisition d'images. Le balayage automatisé permet également d'augmenter l'efficacité et la précision des expériences. De plus, le JSM 6400 offre une analyse d'image manuelle et contrôlée par ordinateur, ce qui offre aux chercheurs une grande variété d'options de post-imagerie. JEOL JSM 6400 est un microscope électronique à balayage avancé et polyvalent. Il offre une gamme de fonctionnalités, y compris un système de vide chromatique, une gamme dynamique rapide, et un balayage automatisé de scène. Ces caractéristiques, ainsi que son détecteur d'ESB à deux canaux, permettent aux chercheurs d'analyser avec précision et reproductibilité les spécimens et d'obtenir des images de haute qualité.