Occasion JEOL JSM 6400F #9089825 à vendre en France

JEOL JSM 6400F est un microscope électronique à balayage d'émissions de terrain (FE-SEM) à haute performance conçu pour fournir des capacités d'imagerie et d'analyse révolutionnaires pour la recherche et les applications industrielles. Sa conception très efficace offre des performances de pointe, lui permettant d'obtenir une résolution nettement plus élevée, un grossissement plus élevé, un bruit réduit et des vitesses d'imagerie plus rapides que les SEM traditionnels. JEOL JSM 6400 F dispose d'un canon à émission de champ (FEG), qui offre une résolution supérieure et une résolution d'image par rapport aux sources d'émission de champ standard Schottky ou tungstène. La FEG est capable de produire une gamme d'énergies d'électrons primaires comprise entre 0,2 et 30 KeV. Cela permet une plus grande gamme de capacités d'imagerie et une meilleure capacité de détecter et d'identifier les caractéristiques subtiles des spécimens. Le 6400F dispose également d'une grande profondeur de champ et d'une vitesse de balayage rapide, permettant une imagerie précise et à haute résolution et l'acquisition de données même en changeant la focalisation des caractéristiques de surface proche à sous-surface. JSM 6400F est équipé d'un système de lentilles électroniques haute performance et uniforme dans l'espace, qui utilise des lentilles de condenseur dans les lentilles et post-lentilles optimisées pour une correction et une résolution optimales de l'aberration. En outre, il est équipé de la dernière technologie de pré-traitement d'image pour fournir la meilleure imagerie disponible. JSM 6400 F dispose également d'une grande variété de fonctions d'analyse et d'imagerie, y compris la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS), la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), la cathodoluminescence (CL) et le faisceau double focalisé. Ces capacités de pointe font de JEOL JSM 6400F un outil inestimable pour les techniques d'analyse et d'imagerie. JEOL JSM 6400 F offre également une large gamme de fonctionnalités logicielles pour un fonctionnement efficace et efficient. Il s'agit notamment d'un système automatisé de contrôle de l'étape des échantillons, d'outils avancés de gestion de l'analyse des échantillons et d'une interface utilisateur intuitive pour un fonctionnement efficace. JSM 6400F est un instrument puissant et polyvalent pour l'imagerie et la microanalyse, doté d'une vaste gamme de capacités et de fonctionnalités adaptées aux exigences des applications actuelles de la recherche et de la nanotechnologie industrielle.