Occasion JEOL JWS 7515 #129821 à vendre en France

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ID: 129821
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) ultramoderne doté de capacités de haute performance et de fonctionnalités avancées. Avec un design de colonne ultra-stable, JEOL JWS-7515 a des performances supérieures et une résolution d'image. Le SEM est conçu pour pouvoir manipuler des échantillons de toutes tailles et formes, des nanoparticules aux matériaux en vrac. Le dispositif est piloté par une unité de balayage numérique à grande vitesse qui aide à réduire considérablement les vibrations et le bruit, permettant le balayage d'échantillons délicats et très sensibles. La JWS 7515 est également équipée d'un équipement de focalisation automatique robuste, d'un puissant système ESB (protection des sources d'électrons) et d'une unité de déviation optimisée pour une excellente qualité d'image. Le SEM dispose d'une large gamme d'optiques électroniques, telles qu'un scintillateur à faible bruit, une machine d'imagerie à haute résolution à réglage numérique et une distance de travail hybride. Cela permet aux utilisateurs d'adapter l'optique électronique aux besoins spécifiques de leur échantillon tout en optimisant les exigences d'imagerie. En outre, le dispositif dispose d'un grand champ de vision grand angle, donnant aux utilisateurs accès à toute la surface de l'échantillon. Le SEM est équipé d'une puissante chambre à vide thermique, pour fournir des conditions environnementales contrôlées, idéal pour les échantillons sensibles à la température. Il dispose également d'une chambre de préparation d'échantillons spécialisée qui permet le chargement et le déchargement automatisés d'échantillons. Avec son puissant logiciel intégré, JWS-7515 offre un large éventail de fonctionnalités telles que le contrôle d'imagerie, l'acquisition et l'analyse de données, permettant aux utilisateurs de recueillir rapidement et efficacement les données dont ils ont besoin. JEOL JWS 7515 comprend un ensemble d'imagerie avancée et une gamme d'options pour une analyse automatisée plus poussée. Ces paquets optionnels permettent de traiter des images et de générer des graphiques, des graphiques et d'autres quantifications de données. Le dispositif prend également en charge les paramètres définis par l'utilisateur pour personnaliser l'analyse des données. Dans l'ensemble, JEOL JWS-7515 est un puissant microscope électronique à balayage haute performance avec des fonctionnalités et des capacités avancées. Il offre aux utilisateurs une résolution d'image exceptionnelle et des capacités d'imagerie flexibles, soutenant l'acquisition de tout type d'échantillon. La gamme d'options d'analyse automatisée offre aux utilisateurs un moyen pratique de recueillir les données dont ils ont besoin.
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