Occasion ACCRETECH / TSK AM16019 #9193392 à vendre en France

ID: 9193392
Style Vintage: 2007
Wafer thickness measurement systems 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK AM16019 est un équipement d'essai et de métrologie automatisé à grande échelle pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Il dispose d'une grande précision et d'une large gamme de capacités de mesure, lui permettant de répondre aux besoins de la plupart des environnements d'essai de production de masse. La principale caractéristique de TSK AM16019 est sa station de test, qui est capable de tester rapidement jusqu'à 500 plaquettes par heure. Il peut être utilisé pour une variété de domaines d'application, y compris les tests paramétriques et fonctionnels, l'utilisation de la carte de sonde, et le test flip-chip. Sa conception permet un accès facile à de grands composants et installations, fournissant des tests et des diagnostics efficaces. La partie métrologie du système fournit des mesures fiables de divers paramètres du dispositif, tels que les caractéristiques électriques, optiques et mécaniques. Il utilise différents types d'imagerie, de balayage et d'autres techniques de métrologie pour obtenir des mesures précises d'une variété de caractéristiques de l'appareil. Cette unité dispose d'une vision 2D et 3D à grande échelle avec des techniques d'étalonnage précises et reproductibles pour garantir des tests précis et rapides. La machine ACCRETECH AM16019 offre également un logiciel de contrôle de test avancé qui permet une configuration facile pour des opérations complexes. Ce logiciel prend en charge des fonctionnalités telles que l'optimisation des paramètres, l'enregistrement des données et des recettes personnalisées pour automatiser le processus de test. En outre, il inclut l'apprentissage automatique et les technologies d'apprentissage profond qui permettent une prise de décision intelligente et l'analyse des échecs. L'outil comprend également une station d'analyse qui fournit des outils pour l'analyse des données après mesure. Il permet aux utilisateurs de visualiser les données et d'identifier facilement les problèmes potentiels grâce à divers graphiques et opérations statistiques. En outre, cette station d'analyse dispose de capacités de traçabilité et de sécurité des données, ce qui facilite la cohérence des produits. En conclusion, AM16019 est un puissant outil de test et de métrologie de wafer conçu pour répondre aux besoins des environnements de production de masse modernes. Il est capable de tester et de mesurer rapidement et avec précision une variété de paramètres de l'appareil, et son logiciel avancé et sa station d'analyse permettent de tester et d'analyser les données de manière efficace et fiable.
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