Occasion ACCRETECH / TSK RVF600A-X2 #181765 à vendre en France

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ACCRETECH / TSK RVF600A-X2
Vendu
ID: 181765
Style Vintage: 2003
Coordinate measurement system 2003 vintage.
ACCRETECH/TSK RVF600A-X2 est un équipement complet d'essai de wafer et de métrologie conçu pour répondre aux exigences de la production avancée de semi-conducteurs. Il facilite des mesures rapides, précises et automatisées qui couvrent un large éventail de caractéristiques et de paramètres de l'appareil. TSK RVF600A-X2 est équipé d'un mécanisme automatisé de réglage de la focale et d'un système optique multi-capteurs qui peut détecter des caractéristiques aussi petites que 2µm. Il est doté d'une diffraction par microscopie laser, d'une imagerie microscopique et d'un large champ de vision permettant de mesurer des profils, extractions et reconstructions de haut niveau. En outre, l'unité est conçue avec une interface utilisateur graphique facile à utiliser et un manipulateur de haute précision pour permettre une mesure rapide et précise des plaquettes depuis n'importe quelle orientation. De plus, la résolution d'imagerie est réglable avec grossissement jusqu'à 1,000X, ce qui peut permettre de mesurer des profils de 1 µm de haut. ACCRETECH RVF600A-X2 fournit également une révision automatisée des défauts avec l'imagerie 2D et 3D par points, et contient des bibliothèques intégrées de types de défauts avec des algorithmes de machine-learning. Cela aide à réduire les faux positifs et l'examen manuel inutile des défauts de faible priorité. Pour améliorer encore la précision de la machine, elle est équipée d'une correction automatique de la dérive pour des mesures rapides, précises et fiables. En outre, il dispose d'un outil d'identification et de contournement des objets (OIC), permettant la détection automatique et la segmentation des objets. Cela aide à l'identification visuelle des caractéristiques des plaquettes pendant les processus de production. L'atout robuste de la détection et de l'imagerie de RVF600A-X2 en fait un choix idéal pour une large gamme de tests de plaquettes et de besoins de métrologie. Il garantit des résultats précis et reproductibles et convient aux environnements de production de semi-conducteurs à rythme rapide. En outre, le modèle dispose d'une large gamme de connectivité et de compatibilité, ce qui le rend facile à intégrer dans les lignes de production existantes.
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