Occasion ACCRETECH / TSK / XANDEX B010 #9188540 à vendre en France

ACCRETECH/TSK/XANDEX B010 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures précises et répétables sur les plaquettes semi-conductrices. Il est équipé de technologies d'interférométrie laser et de détection de faisceaux d'électrons pour fournir un ensemble complet de capacités d'essai au niveau des plaquettes. TSK B010 utilise un interféromètre laser pour mesurer avec précision les dimensions des plaquettes. La précision des résultats obtenus avec l'interféromètre est de l'ordre des nanomètres, ce qui la rend idéale pour tester les plaquettes lorsqu'elles sont utilisées dans des applications telles que MEMS, Nano Electronics et d'autres pièces de précision. Il dispose également d'un mode d'imagerie en 3 dimensions qui lui permet de mesurer et d'analyser les structures et les formes des plaquettes, fournissant des données plus précises que les méthodes traditionnelles. XANDEX B010 propose également un système de détection de faisceau d'électrons haute performance (EB) pour le test des plaquettes. Cela offre des capacités supplémentaires pour des mesures précises du contour, du déplacement et de l'épaisseur du film. L'unité EB dispose également d'une machine à vide pour maintenir de faibles niveaux de contamination des échantillons et réduire les artefacts dus à la charge ou aux électrons parasites. Pour acquérir les mesures d'ACCRETECH B010, l'outil est connecté à un ordinateur via une connexion Ethernet intégrée. En outre, il offre un logiciel optionnel pour analyser et archiver les données de test. Pour assurer des mesures cohérentes, B010 utilise des dispositifs de contrôle complets pour réguler la température, le positionnement et l'exposition des échantillons. En outre, sa conception est hautement configurable, ce qui permet aux utilisateurs d'intégrer des capteurs spécifiques et des systèmes d'essai pour répondre à leurs besoins. En conclusion, ACCRETECH/TSK/XANDEX B010 est un outil de test et de métrologie de plaquettes très précis et reproductible, qui convient à diverses applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Ses technologies sophistiquées d'interférométrie laser et de détection de faisceaux d'électrons permettent des mesures précises, tandis qu'une connexion Ethernet intégrée et un logiciel optionnel facilitent l'analyse et l'archivage des données. TSK B010 offre également des fonctions de contrôle configurables pour assurer des mesures cohérentes et ainsi permettre des résultats fiables.