Occasion ACCRETECH / TSK / XANDEX X1412 #9029340 à vendre en France

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ID: 9029340
Prober inking system, 8" Pneumatic inker Programmable dot counter Automatic cartridge priming Dot range: 15-50 mil DM-2 or DM-2.3 disposable cartridges Available sizes: A5, A6 and A8 Precision alignment: X: ±0.125” Y: ±0.19” Z: ±0.11” Model number: 350-0002 2008 vintage.
ACCRETECH/TSK/XANDEX X1412 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui est utilisé pour inspecter, analyser et mesurer les plaquettes de semi-conducteurs. Le système a été conçu pour fournir des résultats précis et reproductibles, avec une productivité élevée. TSK X1412 offre une gamme innovante d'options à partir d'un seul nombre de testes, avec une large gamme de cartes de charge et une variété de configurations pour des applications spécifiques. L'unité comprend une série de 14 outils comprenant des systèmes de métrologie, d'optoélectronique, d'électricité, de cartographie des plaquettes, de profilage de profondeur, d'analyse des rayons X et de cartographie de surface. La machine de métrologie consiste en un microscope à haute résolution qui fournit des images détaillées des surfaces des plaquettes et permet une évaluation dynamique des défauts, permettant des données d'inspection détaillées. Il fournit également l'examen des défauts ou l'analyse de défaillance des puces. Le microscope est capable de détecter des structures de sous-microns telles que les essais électriques et mécaniques les plus courants. Il est également capable de mesurer les angles et les distances avec la plus grande précision, permettant une étude détaillée de la répartition des contraintes pour la plaquette à réaliser. L'outil optoélectronique de XANDEX X1412 comprend un pyromètre et un spectromètre pour mesurer les propriétés matérielles telles que la réflectivité et la luminescence de la plaquette. Cet atout permet l'inspection de puces à LED organiques et d'autres matériaux optoélectroniques, ainsi que l'analyse de motifs spectraux pour différentes LED. Le modèle électrique permet des tests électriques sophistiqués à l'aide d'une variété de sondes, de balayages et de mesures. L'équipement mesure les propriétés électriques des dispositifs semi-conducteurs tels que transistors et condensateurs, et vérifie également la fonctionnalité des circuits intégrés. X1412 fournit également la cartographie des plaquettes pour la fabrication avancée de semi-conducteurs. Des images haute résolution d'échantillons de plaquettes sont prises pixel par pixel pour fournir une évaluation détaillée de la distribution spatiale des caractéristiques. Ces informations sont utilisées pour optimiser la conception et le rendement des processus. Le système de profilage de profondeur fournit une analyse complète de la topographie des plaquettes semi-conductrices. Cette unité est utilisée pour la détection de contaminants, de défauts, d'anomalies et d'autres caractéristiques intéressantes. Les résultats des mesures peuvent être utilisés pour caractériser les matériaux de surface et d'encombrement dans les dispositifs semi-conducteurs et pour optimiser le traitement. Enfin, ACCRETECH X1412 peut être mis à niveau avec une machine d'analyse aux rayons X, permettant de détecter des défauts et impuretés tels que des particules, des fissures et des vides dans les échantillons de plaquettes. Cet outil est utilisé pour un contrôle de haute qualité des plaquettes brutes afin de garantir une augmentation de rendement et une amélioration globale de la qualité des produits finis. Dans l'ensemble, ACCRETECH/TSK/XANDEX X1412 wafer testing and metrology asset est un modèle avancé et fiable pour l'inspection, l'analyse et la mesure des wafers semi-conducteurs. Il offre une gamme complète de capacités de test, avec des images haute résolution, des tests électriques robustes et la capacité de détecter les impuretés et les défauts. L'équipement est idéal pour les essais à haut débit et les applications de métrologie.
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