Occasion ADE / KLA / TENCOR 9500 #9176508 à vendre en France

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ADE / KLA / TENCOR 9500
Vendu
ID: 9176508
Wafer flatness measuring system Single cassette on autoloader II ASC Controller.
ADE/KLA/TENCOR 9500 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour tester des plaquettes semi-conductrices pour détecter des défauts et d'autres caractéristiques. Le système utilise une combinaison avancée de technologies optiques, électriques et laser pour mesurer un large éventail de caractéristiques, y compris la topographie de surface des plaquettes, l'uniformité et la dimension critique. Il se compose d'un ordinateur central, d'optiques, de sources lumineuses et de contrôleurs informatiques. Les optiques comprennent des lentilles, des miroirs, une unité de balayage, une unité de détection et des étages POS motorisés. L'ordinateur central comprend également un laser, un microscope, un scanner et des puissances laser. La machine est capable de détecter même des défauts microscopiques sur la plaquette grâce à un processus de microscopie optique. Il utilise des techniques d'imagerie optique pour inspecter la surface de la plaquette. La caméra CCD est utilisée pour capturer des images de la plaquette, qui est ensuite traitée et analysée par le processeur d'images intégré. L'outil est capable de tester les propriétés électriques des plaquettes avec ses composants induits par faisceau d'électrons (EBIC) intégrés. Ces EBIC sont utilisés pour analyser la conductivité du matériau de la plaquette et mesurer les caractéristiques du dispositif telles que la tension de seuil et le gain. Il est également capable de mesurer avec une grande précision les caractéristiques de puissance de la surface de la plaquette. En outre, l'actif supporte un large éventail de capacités de métrologie. Ces capacités comprennent la lithographie sélective, la reconnaissance automatique des caractéristiques, la mesure de l'épaisseur du dépôt et l'alignement des recouvrements. Il est également capable de mesurer la structure cristalline de la plaquette à travers les algorithmes de reconnaissance de motifs cristallins et d'analyse d'image différentielle. L'ordinateur central comprend également des outils logiciels pour des mesures fiables et automatiques des dimensions critiques, ainsi que pour la collecte, l'analyse, le stockage et le traitement des données. ADE 9500 est un modèle d'essai et de métrologie de plaquettes très fiable et précis. Il fournit une solution efficace pour contrôler les performances et l'assurance qualité des plaquettes semi-conductrices. Avec ses caractéristiques avancées, il peut fournir des résultats précis et fiables pour la fabrication et la conception de plaquettes.
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