Occasion ADE / KLA / TENCOR 9500 #9186108 à vendre en France

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ADE / KLA / TENCOR 9500
Vendu
ID: 9186108
Wafer measuring system Dual loader system.
ADE/KLA/TENCOR 9500 est un équipement renommé d'essai et de métrologie des plaquettes, conçu pour fournir des données précises et fiables de caractérisation et de métrologie des plaquettes. Ce système introduit des mesures de plaquettes planaires complètes qui sont complétées par des capacités de métrologie de surface avancées. L'unité est composée d'une unité principale de balayage et de plusieurs unités supplémentaires qui lui sont reliées. L'unité principale est une unité de balayage qui comprend un étage motorisé de précision qui déplace la plaquette à travers les capteurs, tandis qu'un étage Z modifie le foyer de la machine à faisceau d'électrons en réponse à la géométrie de la plaquette. Une unité d'optique permet à l'utilisateur d'acquérir des images à différents agrandissements. L'unité principale de balayage dispose également de capteurs capacitifs qui mesurent la surface plane de la plaquette. Ces capteurs sont très sensibles et précis. En outre, l'outil a plusieurs autres composants qui augmentent ses capacités. L'ellipsomètre mesure différentes caractéristiques optiques telles que l'indice de réfraction ou le coefficient d'extinction. Un outil de cartographie automatisée des wafers est utilisé pour analyser wafm (Atomic Force Microscopy) afin d'obtenir un aperçu topographique détaillé de la surface. Le logiciel intégré du modèle fournit une interface utilisateur graphique intuitive et facile à utiliser pour accéder au logiciel de l'équipement. Le logiciel offre des fonctions de traitement de données puissantes pour effectuer la mesure et l'analyse des paramètres. Le logiciel peut générer divers types de rapports, des données statistiques aux présentations graphiques. Ce système peut être exécuté à partir de n'importe quel PC, en utilisant l'unité d'exploitation Windows, offrant ainsi de la flexibilité. La machine ADE 9500 est extrêmement précise et polyvalente. Ses choix de construction garantissent des mesures rapides et faciles avec des résultats précis. Son large éventail de capacités et de précision en font un excellent choix pour tout laboratoire qui nécessite une métrologie avancée. Avec cet outil, les opérateurs peuvent facilement caractériser n'importe quel type de surface de plaquette avec une précision et une précision supérieures.
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