Occasion FOUR DIMENSIONS 280SI #9180333 à vendre en France

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ID: 9180333
Four point probe station Measuring bulk wafers Resistivity tester for measuring bulk wafers Conductive films: Metals EPI Alloys Diffusion Ion implantation Polysilicon Measurement range: 1E-3 to 8E5 Ohm/sq Up to 200 mm in diameter 156 mm X 156 mm Platen Speedy motions System backup diskettes Vacuum hose Ceramic probe conditioner Manual (On CD) Automap Analysis software mapping package PC Computer system: 2GHz CPU 250GB Hard drive 1GB RAM CD ROM Drive HP Deskjet color printer 19" FPD Monitor Precision probe head Software on Windows 7 Calibration set (CAL-1 to CAL 5).
FOUR DIMENSIONS 280SI est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour les plaquettes semi-conductrices. C'est un système intégré, qui est la plate-forme de métrologie de plaquettes la plus avancée disponible. C'est une solution idéale pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie dans les environnements de recherche et de production. 280SI utilise une technologie brevetée appelée « Raster Beam Analysis », qui fournit des mesures 2D et 3D très précises et des analyses de paramètres multiples sur l'ensemble de la plaquette. Cela permet d'optimiser les processus de la plaquette et de vérifier ses dimensions et paramètres critiques. L'unité supporte les mesures de plaquettes suivantes : techniques de photo-optique, d'imagerie optique, de topographie de surface et de sonde de contact. Il est capable de mesurer les épaisseurs et les caractéristiques de plusieurs couches avec une grande précision et précision en utilisant des techniques d'interférométrie et de spectroscopie. En outre, il dispose également d'une machine d'imagerie 4D pour mesurer la profondeur et la topographie tridimensionnelle avec précision sous-onde. L'outil FOUR DIMENSIONS 280SI est livré avec des algorithmes d'analyse et de traitement de données qui permettent une caractérisation complète des wafers. Il dispose également d'un grand écran tactile pour interagir avec l'opérateur. En se connectant à une base de données centrale, l'opérateur peut sauvegarder et analyser les données acquises. L'actif dispose de connecteurs PC standard, permettant à l'utilisateur d'intégrer 280SI dans son réseau existant et de l'utiliser dans un environnement distribué. Cela permet la compatibilité, l'intégration et le partage et l'analyse de données avancées. Avec ses interfaces multiples, l'équipement est facilement configurable pour s'adapter à n'importe quel environnement d'exploitation. La conception mécanique robuste du système assure la durabilité et supporte les plaquettes jusqu'à 8 ". Son interface graphique intuitive et conviviale est conçue pour minimiser les temps d'arrêt de la machine et optimiser le fonctionnement. FOUR DIMENSIONS 280SI offre une précision et une précision exceptionnelles à grande vitesse, ce qui le rend idéal pour toute opération de métrologie. Avec ses technologies et ses fonctionnalités innovantes, elle est la plate-forme de métrologie de wafer ultime qui peut fournir des résultats fiables et précis avec un débit accru à des fins de recherche et de production.
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