Occasion ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9183764 à vendre en France

ADE/KLA/TENCOR NLorsqu'il s'agit d'un appareil d'imagerie aux rayons X haute résolution conçu pour la caractérisation des nanomatériaux. Le système intègre deux technologies, ADE source de rayons X ultra-haute résolution avec optique de ligne de faisceau avancée, et KLA Nanoscope Profiler pour la topographie de surface nanométrique. Ces deux technologies travaillent ensemble pour produire des images et des mesures de nanomatériaux sans précédent. TENCOR fournit à sa source de rayons X un puissant injecteur d'électrons à impulsion nanoseconde de 200 kilovolts et une optique en ligne de faisceau. L'optique du faisceau fournit des images extrêmement haute résolution avec jusqu'à la résolution nanométrique. Cela permet une analyse structurelle et élémentaire détaillée des nanostructures individuelles. L'unité comprend également des détecteurs de dispositifs à couplage de charge (CCD) pour l'imagerie aux rayons X, ainsi que des détecteurs de plaques multicanaux pour la détection d'électrons provenant d'interactions ioniques. ADE/KLA/TENCOR Nanoscope Profiler est la deuxième technologie utilisée dans l'ADE. Le nanoscope fournit des mesures continues de topographie de surface du nanomètre, permettant à la machine de mesurer une gamme de paramètres de surface tels que la surface, la rugosité et la microscopie. Cela se combine avec la source de rayons X pour créer des images très détaillées des nanodyamiques et des variables de surface. En plus de l'imagerie, KLA NconceptuMapper intègre également la technologie brevetée ADE de microscopie électronique à balayage (SEM) pour l'analyse détaillée des caractéristiques à l'échelle d'un nanomètre. Cette technologie comprend un microscope électronique de pointe, qui est combiné avec des détecteurs d'électrons de haute sensibilité pour obtenir des images précises des caractéristiques morphologiques d'une nanostructure. Cela fournit aux utilisateurs des données pour une analyse et une comparaison plus approfondies. L'outil est également conçu pour être très portable, permettant aux utilisateurs de prendre des instantanés de nanostructures dans n'importe quelle gamme d'environnements. Cela le rend idéal pour caractériser les nanomatériaux dans diverses conditions. Dans l'ensemble, Nageusement Mapper est un atout avancé d'imagerie aux rayons X conçu pour la caractérisation des nanomatériaux. Sa combinaison de source de rayons X ultralégers à haute résolution, d'optique à lignes de faisceau, de détecteurs CCD, de nanoscope profileur et de microscopie électronique à balayage crée un modèle unique qui permet aux utilisateurs d'obtenir des images et des mesures de nanostructures inégalées avec une grande portabilité.