Occasion PHILIPS SD-3400 #9163651 à vendre en France

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Fabricant
PHILIPS
Modèle
SD-3400
ID: 9163651
Style Vintage: 1993
Ellipsometer Plasmos SD series thin film measurement system Nulling method / Rotating analyzer method Includes: Intergrade cleanroom compatible construction compact system Stainless steel frame With stainless steel perforated sheet metal covers Laminar flow-hood with integrated lighting 1993 vintage.
PHILIPS SD-3400 est un dispositif de technologie ellipsométrique de pointe utilisé dans des expériences de caractérisation de surface, comme la modélisation optique en couches minces. Le cadre SD utilise un polariseur et un détecteur monochromatiques pour mesurer les deux paramètres du vecteur champ électrique de la lumière : l'amplitude et la phase. Les deux paramètres sont mesurés sur une plage d'angles d'incidence, ce qui permet de cartographier les propriétés optiques des matériaux. PHILIPS SD 3400 est équipé d'une source laser HeNe de faible intensité qui fournit une longueur d'onde de 632,8 nm, et d'un détecteur CCD. SD-3400 peut fonctionner avec une gamme de types d'échantillons, y compris, sans s'y limiter, des couches minces caractérisées par leur indice de réfraction, leur épaisseur de revêtement optique ou des couches de films internes. Par ailleurs, SD 3400 peut également mesurer des matériaux multicouches, cibles de mesure préférées pour la caractérisation optique des matériaux. La conception de pointe du PHILIPS SD-3400 est réalisée par sa combinaison d'un goniomètre 5 axes ultra-précis avec un réglage d'ouverture, une faible utilisation des contraintes mécaniques et une focalisation électronique. En outre, ses techniques de montage des miroirs les plus modernes permettent d'augmenter les plages d'inclinaison et de prolonger la durée de vie contre les réglages de l'optique du goniomètre. PHILIPS SD 3400 offre également une large gamme de logiciels de processus et d'analyse pour obtenir les paramètres de surface du matériau de l'échantillon, y compris les fonctionnalités avancées de traitement et de présentation des données, la modélisation optique avancée, et la capacité de concevoir des expériences personnalisées. SD-3400 est un outil extrêmement précis pour la caractérisation des matériaux, comme le prouve sa précision linéaire de balayage de 0,001 °. Ce dispositif de haute qualité offre une grande stabilité pour ses applications, une interface utilisateur compatible PC pour le traitement des données, et un puissant système de surveillance optique qui assure encore plus de résultats. En outre, sa conception fournit également un certain nombre de configurations facultatives, y compris l'isolation des vibrations, les mesures à double canal, et la réduction du bruit. SD 3400 est l'outil idéal pour analyser les matériaux, mesurer les propriétés optiques et caractériser les couches minces. Sa conception de pointe et ses caractéristiques de pointe garantissent des résultats supérieurs, ce qui en fait un appareil exceptionnellement efficace dans une gamme d'applications.
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