Occasion RUDOLPH FE III #9100481 à vendre en France

RUDOLPH FE III est un ellipsomètre, un dispositif typiquement utilisé pour mesurer les propriétés optiques des couches minces et des substrats. Cet outil de pointe est capable de mesurer les caractéristiques optiques des couches minces avec une précision nanométrique, et est largement utilisé dans un large éventail d'applications scientifiques, y compris l'optique, l'électronique, la science des matériaux et la biologie. Le fonctionnement de base de RUDOLPH FEIII est la mesure des propriétés optiques d'un film mince par l'utilisation du phénomène d'ellipsométrie. Il s'agit d'une méthode optique par laquelle la lumière polarisée est incidente sur un objet et les propriétés de la lumière réfléchie sont mesurées. Les variations de l'angle de polarisation et de l'intensité de la lumière réfléchie sont ensuite utilisées pour calculer les constantes optiques de l'échantillon. FE-III possède des caractéristiques de haute performance qui permettent de mesurer avec précision les propriétés des couches minces. Ces caractéristiques comprennent un polarimètre haute résolution, un détecteur CCD MTECA, un chemin optique spécialement conçu et une interface utilisateur intuitive. FEIII comprend en outre deux chambres d'intégration, un système optique de contrôle de la stabilité du chemin et un système à longueur d'onde longue qui permet de mesurer des films sur la gamme 450-1000nm. RUDOLPH FE-III est capable d'une large gamme d'applications d'ellipsométrie. Les capacités de mesure du dispositif comprennent la détermination de l'épaisseur et des constantes optiques des couches minces, en plus de l'analyse des indices de réfraction dans les surfaces monocouches, multicouches et multicouches. La FE III a également la capacité de saisir, d'analyser et de visualiser en temps réel, ce qui permet l'acquisition et la communication de données fiables. En bref, RUDOLPH FE III est un ellipsomètre avancé permettant de déterminer les propriétés optiques des films minces et des substrats avec une grande précision. Sa longue gamme de longueurs d'onde, son interface utilisateur intuitive et ses fonctionnalités performantes en font un outil indispensable pour des applications scientifiques et industrielles.