Occasion TERADYNE J750 #9190314 à vendre en France

TERADYNE J750 Final Test Equipment est un équipement de test et d'analyse de semi-conducteurs conçu pour tester avec précision et efficacité une variété de boîtiers de circuits intégrés (IC). Il est capable de tester les IC rapidement et avec précision pour identifier et séparer les pièces défectueuses des bonnes. TERADYNE J 750 utilise une gamme complète de composants logiciels et matériels pour effectuer des tests approfondis sur les IC. J750 dispose d'une série de cartes pin-card qui sont utilisées pour interagir avec le CI testé. La carte pin contient un ensemble sophistiqué de circuits numériques et analogiques. Ces circuits permettent à J 750 de mesurer avec précision une variété de paramètres sur le CI, pour détecter d'éventuels défauts. Le paquet TERADYNE J750 comprend également un contrôleur de test spécialisé - le « Tetra-Link » - qui garantit que toutes les cartes pin du système sont correctement configurées pour le test. TERADYNE J 750 utilise plusieurs algorithmes et logiciels sophistiqués pour générer les profils de test nécessaires pour tester et analyser les IC. Le logiciel fournit un vaste ensemble d'outils pour créer, affiner et automatiser les essais. Cela permet à l'utilisateur d'adapter son protocole de test aux besoins individuels de chaque IC. J750 est également livré avec plusieurs interfaces GUI qui permettent à l'utilisateur de surveiller et d'ajuster leurs paramètres de test en temps réel. J 750 comprend également des modules d'analyse puissants qui peuvent être utilisés pour identifier la cause des défauts découverts. Ces modules sont capables d'effectuer des simulations dans les domaines du temps et de la fréquence, pour produire une caractérisation précise et complète des défauts. L'unité comprend également diverses techniques de visualisation des données pour aider l'utilisateur à interpréter et analyser ses résultats de test. TERADYNE J750 Final Test Machine offre une excellente solution pour tester et caractériser rapidement les dispositifs semi-conducteurs modernes. Son ensemble robuste de composants logiciels et matériels permet aux utilisateurs de tester soigneusement et avec précision leurs IC, ce qui peut finalement entraîner un taux plus faible de défaillance de l'appareil.