Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9256560 à vendre en France

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ID: 9256560
Style Vintage: 1998
Defect review system 1998 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Mask & Wafer Inspection Equipment est une solution complète à haut débit conçue pour aider la fabrication de semi-conducteurs et d'autres industries connexes à améliorer le rendement, le débit et la qualité de la production globale. Utilisant la reconnaissance optique avancée et l'imagerie, le système est capable d'analyser avec précision les motifs des semi-conducteurs et d'identifier les défauts potentiels. L'unité est conçue pour optimiser le processus d'inspection en détectant rapidement et avec précision les défauts lents et rapides. Cela se fait à travers plusieurs séquences d'inspection dynamique qui peuvent être configurées pour fournir des résultats répétables. Les caractéristiques de la machine comprennent à la fois leur suite avancée d'algorithmes de détection de défauts basés sur l'image et leur technique avancée d'inspection des défauts. L'outil fournit une approche automatisée en temps réel de l'inspection des plaquettes et fournit des résultats d'analyse fiables et reproductibles. Le Mask & Wafer Inspection Asset d'AMAT dispose d'un modèle d'imagerie numérique haute résolution, ainsi que de la technologie d'amélioration de l'image numérique. Cela permet des inspections de modèle extrêmement précises, la détection des défauts et la mesure de la valeur des composants. Grâce à la reconnaissance et à l'analyse automatisées des fonctionnalités, l'équipement peut rapidement identifier les anomalies ou les défauts. Le système dispose également de capacités d'alignement et de correction avancées, lui permettant d'analyser efficacement les motifs avec des arêtes vives et des structures très sensibles. L'unité fournit également de puissantes capacités de détection de bord, lui permettant de reconnaître et d'isoler les motifs désirés. En outre, la machine est conçue avec des capacités pour des inspections anti-fouling. Il s'agit d'analyser les plaquettes pour détecter les contaminants communs de l'environnement, comme le brochet, l'abrasion et la croissance des moisissures. En plus de ces capacités, l'outil aide également à réduire le temps d'inspection en éliminant le besoin de numérisation manuelle afin d'améliorer la productivité et de réduire les coûts. Dans l'ensemble, le Mask & Wafer Inspection Asset de APPLIED MATERIALS est conçu pour améliorer le rendement de production et la qualité des produits. En fournissant des performances d'inspection rapides, précises et répétables, le modèle augmente la probabilité que des dispositifs défectueux ou défectueux soient identifiés et remplacés au début du cycle de production, ce qui se traduit par des rendements améliorés, une efficacité accrue et des économies.
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