Occasion ESI / MICROVISION 882 #9104381 à vendre en France

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ESI / MICROVISION 882
Vendu
ID: 9104381
Lead inspection system.
ESI/MICROVISION 882 Mask & Wafer Inspection Equipment est une technologie mondiale de métrologie et d'imagerie conçue pour l'analyse des défauts dans l'industrie des semi-conducteurs. Ses caractéristiques comprennent l'imagerie sans contact et la détection automatisée des défauts, fournissant une précision inégalée lorsqu'il est utilisé pour détecter et mesurer les problèmes avec les surfaces de masque et de plaquette, ce qui réduit considérablement le temps de traitement et d'analyse des lots de production. ESI 882 utilise deux composants pour fournir une architecture avancée de reconnaissance des défauts. Le premier est un système optique qui fournit une image agrandie haute résolution de la surface permettant ainsi d'identifier avec précision même les irrégularités ou défauts les plus subtils. Le second est un algorithme de détection de défauts qui utilise un réseau de neurones pour balayer l'image pour détecter la présence de défauts puis les classer en fonction de leurs caractéristiques respectives. MICROVISION 882 Masque et Wafer Inspection Unit offre une large gamme de fonctionnalités, permettant aux utilisateurs d'adapter la machine à leurs besoins particuliers. Il prend en charge les opérations manuelles et automatisées, intégrant trois options d'éclairage pour une analyse optimale, à savoir les modes Visible, UV et Infrarouge. Il offre également le choix de plusieurs capteurs grand format et une variété de fonctionnalités de reconnaissance de motifs. L'outil peut être utilisé sur une variété de substrats, du métal aux matériaux optiques, et peut déterminer des tailles de défauts allant de µm, dans les dimensions planaires et verticales. En outre, il est équipé de capacités de grossissement allant jusqu'à 1000X, fournissant une excellente résolution pour l'identification des défauts. 882 Mask & Wafer Inspection Asset est également livré avec une interface utilisateur intuitive qui permet un accès facile aux différentes fonctions logicielles. Il est équipé d'outils graphiques avancés pour afficher les résultats, permettant aux utilisateurs de repérer plus facilement les défauts, et il offre également 'Assistance à l'analyse de l'opérateur' qui fournit un guidage intuitif, facilitant grandement le balayage et la classification des défauts. Avec ESI/MICROVISION 882 Masque et Wafer Inspection Model, les utilisateurs peuvent profiter d'une technologie de détection des défauts avancée et fiable qui est adaptée aux besoins de leur industrie particulière. Il offre une excellente plate-forme pour la fabrication de semi-conducteurs, contribuant à réduire les défauts et les coûts de production en rationalisant les processus d'analyse et d'optimisation.
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