Occasion ESI / MICROVISION MVT 5080 #9088287 à vendre en France

ESI/MICROVISION MVT 5080 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes qui fournit des performances supérieures, ciblé aux fabricants de semi-conducteurs. Le système offre le débit le plus élevé pour les inspections de masque complet avec une résolution supérieure et une large gamme de vitesses d'inspection pour répondre aux exigences les plus exigeantes. L'unité est composée d'un moteur d'éclairage optique anti-perte de rendement, de deux caméras à réseau linéaire, d'un alignement automatique et laser, d'une optique de zoom avancée et d'algorithmes de contrôle avancés. Les caméras à réseau linéaire sont capables de capturer plusieurs images par tache de scan à haute résolution, ce qui donne une qualité d'inspection supérieure. Le mécanisme d'auto-focalisation et d'alignement laser permet un alignement rapide et facile de l'étape d'inspection avec le meilleur réglage de focalisation. L'optique avancée à l'intérieur de la machine permet des vitesses de balayage jusqu'à 20um/s pour des inspections rapides et précises. Les algorithmes de contrôle de l'ESI MVT 5080 comprennent une large gamme de fonctionnalités pour la détection efficace des défauts, y compris la vérification du placement de la matrice, la reconnaissance fiduciaire et la détection des anomalies de netteté des bords. Les commandes à plat de la pile intégrée garantissent que les images défectueuses sont capturées avec précision sur toute la série d'images. Divers filtres de traitement d'image sont intégrés à l'outil, offrant ainsi une plus grande adaptabilité à l'environnement d'inspection. L'interface utilisateur de l'écran tactile est intuitive et offre une courbe d'apprentissage rapide, garantissant que l'actif d'inspection nu et wafer peut être utilisé par les opérateurs de tous les niveaux d'expérience. En outre, le modèle est entièrement personnalisable, permettant aux utilisateurs d'adapter rapidement et facilement l'équipement à leurs besoins exacts. MICROVISION MVT 5080 peut détecter des défauts avec une précision de 100nm, et a une vitesse d'inspection maximale de 20um/s. Le système a un taux d'échantillonnage de 4 millions de points par seconde et un champ de vision maximal de 6mm. De plus, l'unité est conçue pour réduire les erreurs fausses positives et fausses négatives, assurant une détection et une classification efficaces et précises des défauts. MVT 5080 est un choix idéal pour toute application de fabrication de semi-conducteurs, offrant une précision de détection supérieure, des fonctionnalités de contrôle et une interface utilisateur intuitive. Les performances efficaces et fiables de la machine en font un outil d'inspection essentiel pour toute ligne de production de semi-conducteurs moderne.