Occasion JEOL JBX-6000FS #9273681 à vendre en France

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JEOL JBX-6000FS
Vendu
ID: 9273681
Taille de la plaquette: 4"
Style Vintage: 1996
E-Beam inspection system, 4" 1996 vintage.
Le microscope électronique à balayage JEOL JBX-6000FS (SEM) est un instrument industriel de référence qui offre une imagerie haute performance avec une praticité et une abordabilité supérieures. Il dispose d'une grande chambre d'échantillonnage confortable avec d'excellentes capacités de régulation de température, un design ergonomique avec une grande fenêtre ouverte pour un accès facile et une grande variété de logiciels d'imagerie et d'analyse disponibles. JEOL JBX-6000 FS est équipé d'une source SEM d'émission de champ qui fournit une option d'imagerie haute résolution et de contraste élevé, ainsi qu'une gamme complète de matériel et de logiciels pour l'imagerie et l'analyse. Sa conception facile à utiliser et ses commandes intuitives le rendent facile à utiliser. Il peut être utilisé pour l'image de matériaux biologiques et organiques complexes, fragments métalliques, nanomatériaux, tissus, dispositifs médicaux et plus encore. JBX-6000FS a des capacités d'imagerie haute résolution avec une résolution maximale de l'ordre d'un nanomètre. Une gamme de fonctionnalités automatisées facilitent et accélèrent l'imagerie avec JBX-6000 FS, y compris l'auto-réglage, l'étape contrôlée par ordinateur et l'analyse d'image automatisée. Il dispose également d'une gamme d'options de détection pour personnaliser le processus d'imagerie. JEOL JBX-6000FS dispose d'une variété de modes d'imagerie disponibles, y compris les modes SEM standard, le mode de visualisation à vide élevé, le mode de cartographie par rétrodiffusion et l'imagerie à pression variable à ultra-haut vide (UHV). Il dispose également d'une gamme de techniques analytiques, telles que l'analyse élémentaire par spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et l'imagerie électronique secondaire (SEI). D'autres caractéristiques de JEOL JBX-6000 FS comprennent son écran tactile pour la navigation facile et l'optimisation de l'image, un système intégré de filtrage de l'énergie, un étage d'échantillonnage motorisé pour la navigation automatisée, et un taux de balayage programmable. Le microscope est également équipé d'un système intégré Bruker AXS EBSD pour la cartographie de diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). JBX-6000FS fournit un microscope électronique à balayage robuste et performant, une ergonomie confortable, des fonctionnalités d'imagerie avancées et des capacités d'analyse rapides et fiables. Sa gamme de matériel et de logiciels en font un choix idéal pour les applications industrielles, biologiques, nanométriques et d'imagerie médicale.
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