Occasion JEOL JBX-9300FS #9246062 à vendre en France

JEOL JBX-9300FS est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution avec une large gamme de fonctionnalités. Avec des performances améliorées et une construction robuste, JBX-9300FS est capable de prendre des images au microscope électronique à balayage avec une résolution inférieure à 0,7 nm. Son Electron Optics fournit une imagerie sans distorsion même à des grossissements très élevés. Il dispose également d'un mode Spectra Analysis, lui permettant d'analyser la composition élémentaire d'un échantillon jusqu'à une seule couche atomique. JEOL JBX-9300FS offre une grande résolution spatiale, avec un champ de vision jusqu'à 10 μ m et une résolution de 0,7 nm. Il comprend un système antivibratoire professionnel pour assurer une focalisation lisse et stable aux grossissements maximaux. Le microscope est également équipé d'une gamme d'options de détecteurs, dont un détecteur Faraday pour mesurer les rayons X dispersifs d'énergie (EDS) et un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour l'imagerie à l'échelle atomique. JBX-9300FS est capable de fonctionner en mode basse dépression (LVME) jusqu'à 0,5 Pa, ce qui le rend idéal pour les études nécessitant des courants de faisceau élevés et une imagerie haute résolution des matériaux ayant un faible signal électronique secondaire. La chambre au lithium molybdate permet à JEOL JBX-9300FS de prendre des images SE/ESB jusqu'à une pression maximale de 100 Pa. En outre, elle comprend un canon à électrons à faible émission, ce qui lui permet d'imiter les caractéristiques du sous-nanomètre avec un minimum de bruit de fond d'électrons secondaires. En outre, JBX-9300FS dispose d'une option de détection unique, y compris un détecteur de place carrée et un détecteur de focalisation d'énergie. Le Spot Square Detector capture des images et produit des cartes pixel de l'échantillon, tandis que le Energy Focal Detector est utilisé pour mesurer les formes de raies de spectre EELS. Il comprend également un système avancé de fonctionnement automatisé, lui permettant de fonctionner dans des cycles automatisés de changement d'échantillon, améliorant ainsi la productivité globale. Dans l'ensemble, JEOL JBX-9300FS est un microscope électronique à balayage très avancé et puissant, avec une gamme de fonctionnalités conçues pour fournir une imagerie haute résolution avec des performances avancées et une construction robuste. Cet instrument polyvalent est parfait pour toute une gamme d'applications, y compris la science des matériaux, la nanotechnologie et la recherche sur les semi-conducteurs.