Occasion JEOL JBX-9300FSZ #9236559 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 9236559
E-Beam lithography system Cassette loader and control computer Power racks and HV tank Manuals and schematics Gaussian spot electron beam: 4nm diameter Accelerating voltage: 50 kV / 100 kV Current range: 50 pA - 100 nA Scan speed: 50 MHz Vertical range automatic focus: ±100 µm Vertical range manual focus: ± 2 mm ZrO With thermal field emission source Vector scan for beam deflection Maximum 300 mm (12") wafers with 9" of writing area Line width writing at 100 kV: < 20 nm Field stitching accuracy at 100 kV: < 20 nm Overlay accuracy at 100 kV: < 25 nm.
JEOL JBX-9300FSZ est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse de haute performance au chercheur. Cet outil fournira une imagerie temporelle ou transversale haute résolution et une excellente analyse élémentaire avec des fonctionnalités telles qu'un équipement automatisé de manipulation des échantillons et une optique haute résolution. Les composants clés de JEOL JBX 9300FSZ comprennent une colonne optique à particules chargées à haute résolution, un détecteur d'électrons secondaire à haute sensibilité, un système automatisé de manipulation des échantillons et un faisceau d'ions focalisé (FIB). La colonne optique offre une résolution maximale de 0,4 nanomètres et une focalisation dynamique jusqu'à 0,1 nanomètres, permettant à l'utilisateur de réaliser des images à grains fins et une analyse élémentaire de n'importe quel échantillon. Le détecteur d'électrons secondaire est capable de détecter des électrons d'une gamme d'énergie allant de 0.1V à 30kV, permettant à l'utilisateur d'obtenir une image haute résolution de l'échantillon. L'unité de manutention automatisée des échantillons permet le chargement et le déchargement automatisés des échantillons, ainsi que le centrage et l'étalonnage automatisés du faisceau d'électrons. JBX-9300FSZ comprend également un étage de balayage rapide capable de balayer jusqu'à 10 mm par seconde, une grande variété de détecteurs polarisés, un cryoprobe et une sélection de porte-échantillons. Le cryoprobe permet à l'utilisateur d'imiter des échantillons à des températures aussi basses que -247 ° C, tandis que les porte-échantillons conserveront des échantillons de taille allant de 1 x 1 mm à 150 x 150 mm. L'étage de balayage dispose également de connecteurs compatibles avec le vide pour une intégration facile des modèles Extract pour l'analyse des gaz. JBX 9300FSZ offre également une variété de logiciels pour l'analyse et le traitement d'images. Ces logiciels comprennent des paquets pour l'analyse et la mesure d'images, ainsi que des paquets pour la reconstruction tridimensionnelle. Ces programmes offrent des outils avancés d'extraction et de segmentation des fonctionnalités, ainsi qu'une visualisation graphique et numérique sophistiquée des données. Dans l'ensemble, JEOL JBX-9300FSZ est un excellent microscope électronique à balayage avec des capacités d'imagerie et d'analyse avancées. Son large éventail de caractéristiques le rend idéal pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons complexes. Ces caractéristiques, associées à sa résolution impressionnante et à sa machine automatisée de manipulation des échantillons, en font un choix idéal pour tout chercheur cherchant à obtenir des images haute résolution et des informations élémentaires.
Il n'y a pas encore de critiques